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マルチメディア時代の到来を間近に控え、磁気記録技術の向上は必須である。
その重要技術である高性能薄膜磁気ヘッドの開発は、もはや不可欠の問題で、特に薄膜磁気ヘッドの性能に直接関わる磁性薄膜の解析及び機能制御は重要な課題である。
そこで本研究では、将来のキーデバイスとなる薄膜MRヘッドにおける交換結合界面のスピン配列及び現用薄膜インダクティブヘッドの再生波形歪みの理論解析を行った。
(1)初めに、高密度・磁気記録に不可欠となる薄膜MRヘッドを取り上げ、観測不可能な交換結合膜の膜厚方向のスピン配列をモンテカルロ・シミュレーションにより解析した。その結果、スピンの平均的方向が振動減衰すること、またそのスピン配列が固着化することにより、この現象に定量的解釈が可能な新知見・新解釈が与えられた。
(2)次いで、薄膜インダクティブヘッドの高密度記録を妨げていた固有再生波形歪みをシミュレーションにより解析した。その結果、その原因は薄膜インダクティブヘッド特有の問題であり、これを薄膜磁気コア両端部に低透磁率材料の層を付加することにより、急峻な磁束変化を緩和するという新しい方法の考案により解決できることを明らかにした。この方法を実際の磁気コアに適用し、特性評価を行ったところ、従来の性能をはるかに凌駕することが確認された。
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