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スペックルの観察のためには、コヒーレントなX線の波面をピンホール等で取り出す操作が不可欠である。そこでピンホールとスリットを用いてX線の波面を絞って、その波面のコヒーレントを確かめる測定を行った。測定には角度分解能の優れた結晶分光法を用いた。
始めに333反射面をもつ二枚のSi結晶板を用いた二結晶法の配置で測定を行った。結晶板の間にピンホールやスリットを挿入して、フラウンホ-ファー回折を観察しようとしたが、この光学系では角度分解能が十分ではなかった。そこで続いてSi結晶の422反射を5回繰り返すチャネルカット結晶を二個組み合わせた光学系で同様の測定を行った。
その結果、直径10μmのピンホールの回折によってX線の発散角度が広がることが確かめられたが、回折線の副極大を観察するには至らなかった。
次に円孔より強い回折の副極大がある矩形スリットで同様の実験をしたところはっきりとした副極大を観察できた。解析の結果この副極大は、左右各々のスリットでX線がフレネル回折を起こした結果と考えればうまく説明できるものと判明した。
このようにスリットによってX線が回折する現象が、角度分解能の高いチャネルカット結晶の光学系を利用することによって観測できた。今回の実験はすべて研究室のX線発生装置で行ったが、放射光を用いればよりはっきりした結果が得られ、X線のスペックル観察にも大いに役立つであろう。
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