| 研究課題/領域番号 |
07455380
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| 研究種目 |
一般研究(B)
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| 研究機関 | 東京農工大学 |
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研究代表者 |
奥山 健二 東京農工大学, 工学部, 教授 (30038020)
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| 研究分担者 |
野口 恵一 東京農工大学, 工学部, 助手 (00251588)
神鳥 成弘 東京農工大学, 工学部, 講師 (00262246)
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| キーワード | X線結晶構造解析 / 繊維状高分子 / イメージングプレート / X線強度測定システム |
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| 研究概要 |
当初の予定では、1.IPを用いたX線強度測定システムの作成、2.Linked-Atom Least-Squares(LALS)プログラムのワークステーション(WS)への移植、3.システム有効性の検証の3つを計画していた。各項目について進展状況を述べる。
1。IPのダイナミックレンジの広さとWSの高階調性を生かしたユーザーフレンドリーなX線強度測定システムは概ね完成した。まだ、1、2カ所、格子定数の精密化などのサブプログラムに問題点が残っているが、当面の使用には支障のないシステムになっている。
2。LALSプログラムはWS上に移植され、上記強度測定ルーチンとインターフェイスプログラムを介して有機的に結合させた。LALSを使っての構造精密化の計算はWS上では数秒であり、利用者のアイデアを色々試行錯誤するのが、従来に比べ、非常に簡単となり、解析も迅速化した。
3。システムの有効性の検証は、実際に種々の高分子の構造解析を通して行っている。また、これらの解析からシステムの改良点を学び、フィールドバックしている。本年度は、Poly(tetramethylene succinate),Poly(ethylene succinate)などの合成高分子、アセチルカードラン、キトサン水和物の様な多糖類の構造を解析した。また、非常に結晶性のよい試料からのX線回析データについての検討を行うため、新たに液晶性ポリイミド、主鎖液晶型高分子の構造解析を始めた。
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