| 研究課題/領域番号 |
07455380
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| 研究機関 | 東京農工大学 |
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研究代表者 |
奥山 健二 東京農工大学, 工学部, 教授 (30038020)
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| 研究分担者 |
野口 恵一 東京農工大学, 工学部, 助手 (00251588)
神鳥 成弘 東京農工大学, 工学部, 講師 (00262246)
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| キーワード | ファイバーディフラクション / X線強度測定システム / 繊維状高分子 / イメージングプレート / X線結晶構造解析 / 結晶性高分子 |
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| 研究概要 |
本研究では、イメージングプレートを用いて得られた精度の高いX線回折像を用いて、一台のワークステーション上で簡便に、かつ精密に結晶性高分子の構造解析を行うシステムを構築することを目的としている。
本年度の研究成果を述べる。
1.キトサン関連化合物、生分解性高分子等の構造解析を通じてシステムの微調整、微修正を重ねてきた。
2.モノクロメーターを使用したときの偏向の補正について再度検討し直し、これまでのやり方を改めた。ただし、補正量自体がわずかであるので変更前後での違いは無視できる。
3.構造解析部に用いているLALS(Linked-Atom Least-Squares)プログラムの開発者であるArnott教授が1ヶ月間研究室に滞在し、その間本システムについての評価、改良点についてコメントを得た。同教授はこのシステムを高く評価し、世界中の関連研究者に広く提供するべきであるとの意見を得た。ただし、そのためには、さらにuser-friendlyなシステムにすべきで、次なる展開としてX線装置メーカーとの共同研究の形でシステムの完成を目指すこととした。
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