| 研究課題/領域番号 |
07455380
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
高分子構造物性(含繊維)
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| 研究機関 | 東京農工大学 |
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研究代表者 |
奥山 健二 東京農工大学, 工学部, 教授 (30038020)
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| 研究分担者 |
野口 恵一 東京農工大学, 工学部, 助手 (00251588)
神鳥 成弘 東京農工大学, 工学部, 講師 (00262246)
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| 研究期間 (年度) |
1995 – 1997
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| キーワード | ファイバーディフラクション / X線強度測定システム / 繊維状高分子 / イメージングプレート / X線結晶構造解析 / ポリマーディフラクション / 結晶性高分子 |
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| 研究概要 |
本研究では、イメージングプレートを用いて得られた精度の高いX線回折像を用いて、一台のワークステーション上で簡便に、かつ精密に結晶性高分子の構造解析を行うシステムを構築することを目的としている。即ち、本研究以前に我々が構築したパソコンを用いた強度測定システムと大型計算機センターに頼っていた構造解析とが一台のワークステーションで行える総合的システムの構築を目指した。
この当初の目的は完全に達成され、既に数多くの未知化合物の構造解析で実績を挙げてきた。また、この間、システムには、1.シリンドリカルパタ-ソンの導入、2.モノクロメーターを用いた際の偏向補正、などの点で改良、修正を加えてきた。更に、構造解析部に用いているLALS(Linked-Atom Least-Squares)プログラムの開発者であるArnott教授からの助言もあり、さらにuser-friendlyなシステムにし、世界中の関連研究者に広く提供すべく、X線装置メーカーとの共同研究をスタートさせ得たのも、本研究のおかげであった。
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