| 研究課題/領域番号 |
07554023
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| 研究種目 |
試験研究(B)
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| 研究機関 | 東京工業大学 |
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研究代表者 |
平田 岳史 東京工業大学, 理学部, 助手 (10251612)
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| 研究分担者 |
松本 一哉 オリンパス光学株式会社, 技術開発本部, 半導体開発係長
圦本 尚義 東京工業大学, 理学部, 助教授 (80191485)
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| キーワード | 次世代検出器 / 高感度検出器 / イオン検出器 / マルチコネクション |
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| 研究概要 |
隕石(地球外物質)から正確な物質循環過程および年代情報を引き出すために、試料中の超微量元素の同位体組成を高感度かつ高精度で分析するための質量分解法の開発を行った。平成7年度は、高感度イオン検出システム(AMI)の設計・製作をおこなった。また製作した検出器のベンチテストでは、設計通りの基本特性が得られ、質量分析計の高感度検出器として良好な性能がえられることが示せた。また、本年は、新しい検出器を質量分析計に取り付けるためのAMI真空導入システムについても設計・製作をおこなった。このAMI真空導入システムは、超高真空対応でありながら、検出器を最大で250mmの移動ができ、また検出器本体を‐200度にまで冷却できる機能を有している。これまでに、AMI真空導入システムからの妨害ガス発生試験(脱ガス特性評価)を行い、目標とする性能が全て満足されていることが示せた。平成8年度は、実際の検出器を質量分析計本体に取り付け、実際のイオンビームを用いた性能評価および分析法の確立を行う予定である。
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