| 研究概要 |
高速掃引赤外半導体レーザー装置でS/N比を向上するために、同時に測定している周波数標準に用いるスペクトルの吸収位置(頂点)を検出し、一回毎の頂点のずれを補正するようにして積算を行うプログラムを作成した。また、レーザー装置の窓板をCaF2に取り替え、すべての反射鏡をコーティング無しのアルミ鏡に交換することにより、検出器で測定されるレーザー出力を約1.5倍以上にすることができ,S/N比も向上させてN_2…COで強度の弱いと考えられていたK=1←0遷移のP枝吸収線を新たに測定することができた。さらに、2142cm^<-1>近辺にK=0←0遷移が測定されたばかりでなく、2組のR枝吸収線を測定することができた。P枝遷移ではそのうちの1組は測定されたが、残り1組のスペクトルを見出すことは困難であった。この原因は、スペクトルが弱いためか、半導体レーザーの出力不足によるものか不明で、今後検討が必要である。これらの2組の強度はK=0←0遷移の強度の半分であった。N_2…CO錯体分子においてファンデルワールス結合が弱いためにN_2が錯体分子内で自由回転することにより、2個の等価な窒素原子からなる分子錯体と考えられる。この結果、スピン統計でパラN_2状態の吸収線が測定されたものと思われる。このうち、1本のシリーズについてはMcKellar等によって最近報告されたものと一致していた。また、(CO)_2の測定を行い、2144cm^<-1>近辺に強い吸収線があるのが判明し、この近辺にバンドオリジンがあるものと考えられる。測定本数が予想以上に多いのでLoomis-Woods図を計算機を用いた帰属の方法を試みたが、帰属することはできなかった。測定本数が多いこと、帰属が容易でないことなどからCO二量体は安定な構造がいくつか存在しており、それらの間のポテンシャル障壁が低いものと推定される。
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