| 研究概要 |
1.最大エントロピー画像修復システムの構築:電子顕微鏡用写真フィルムに撮影した像をワークステーションに取り込み,最大エントロピー法(MEM)により処理するために,備品としてスキャナを購入し,さらに,従来大型計算機で開発してきた処理プログラムをワークステーションに移植して,電子顕微鏡像の修復システムを構築した.システムは正常に動作し,電子顕微鏡像の微細な構造までディジタル化し,MEM処理することが可能となった.このシステムにより,従来より精度の高い像の取り込みが可能となり,また,処理結果をすぐに表示できるなど,実験を効率的に進める環境が整った.
2.走査透過電子顕微鏡(STEM)像の修復:新しく考案した,ノイズを空間的にランダムに分布させる制約条件(RSD条件)を実現するように改良したMEMを,SN比の小さいSTEM像に適用し,従来のMEM処理の結果と比較した.その結果,従来法では修復できなかった空間的に広がったディスク状物体の像に対しても,RSD条件を用いることにより処理が可能となり,処理の結果,像のSN比が向上することが分った.また,従来法でもある程度修復が可能であった点物体の場合にも,RSD条件を用いることにより従来よりSN比の高い処理像が得られた.しかし,こうようなSN比の低い像では像のぼけを低減することはできなかった.
3.通常の電子顕微鏡(CTEM)像のモデルの修復:弱位相物体のCTEM像のモデルに対して,改良したMEMによる修復を行った.その結果,点位相物体のCTEM像の場合には,SN比が低くて人間には認識できないような悪条件の像からでもぼけとノイズを低減でき,点物体として修復できることが分った.また,ディスク状位相物体についても,点物体の場合ほど顕著ではないがぼけが低減し,像のSN比が向上することが分った.
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