| 研究概要 |
1.最大エントロピー画像修復システムの構築:電子顕微鏡用写真フィルムに撮影した通常型電子顕微鏡像最大エントロピー法(MEM)により処理するために,備品としてスキャナを購入して像をワークステーションに取り込み,さらに,従来大型計算機で開発してきたプログラムを移植して,電子顕微鏡像修復システムを構築した.
2.走査透過電子顕微鏡(STEM)像の修復:新しく考案した,ノイズを空間的にランダムに分布させる制約条件(RSD条件)を実現するように改良したMEMを,SN比の低いSTEM像に適用した.試料としては,従来MEMが有効に適用できなかった広がった物体であるフェリチン粒子を用いた.その結果,RSD条件を用いた処理により,像のSM比が向上することが分った.さらに,比較的SN比の高い暗視野STEM像にMEMを適用し,電子プローブの広がりによるぼけに対するMEMの効果を調べた.直径6.2nmの比較的大きな電子プローブを用いて記録した像では,本来直径7nmであるフェリチン粒子が像では12nmの直径にぼけて観察された.この像に新しいMEMを適用することにより粒子径は9.8nmに減少し,処理前には分離されていなかった粒子が明確に分離できた.
3.通常型電子顕微鏡像の修復:弱位相物体のCTEM像のモデルに対して,改良したMEMによる修復を行った.その結果,点物体だけでなく広い面積のディスク状位相物体についてもぼけが低滅され,像のSN比が向上することが分った。次に試料としてフェリチン粒子を用い,大きく焦点ずらししたノイズの多い実際のCTEM像を処理した.MEM処理を行うことにより焦点ずれによるぼけの修復ができ,さらに像のノイズも低滅できて,フェリチン粒子の有無や位置が正しく復元されていることが分った.
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