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1996 年度 研究成果報告書概要

空気中試料観測用電子顕微鏡の開発

研究課題

研究課題/領域番号 07805008
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 応用物理学一般
研究機関大阪工業大学

研究代表者

菅 博  大阪工業大学, 情報科学部, 教授 (80079574)

研究分担者 小寺 正敏  大阪工業大学, 工学部, 教授 (40170279)
研究期間 (年度) 1995 – 1996
キーワード環境顕微鏡 / ESEM / 生体観察 / オリゴ散乱 / 生体試料 / 細胞観察 / Origo Scatlering
研究概要

現在,電子ビームを応用した分析装置としては,走査型電子顕微鏡や透過電子顕微鏡などがよく知られ,広範な分野で利用されている.しかし,これらでは試料を真空中に置かなければならず,生物検体などでは水分が瞬間的に蒸発し,自然の状態での観察ができなくなる.
そこで筆者らは,試料を空気中に置く形の電子ビーム分析装置の可能性について検討してきた.目指している装置は光学顕微鏡の簡便さとESCAなどが持つ元素分析機能を兼備した簡易分析装置である.筆者らは,ビームをBeやC窓膜を介して空気中に取り出すことを考え,その場合に必要な諸条件や可能な精度等について検討した.
膜を介して得られた電子ビームでは,各種原子との衝突・散乱のため,スポットサイズが大きくなり,高分解能を望むことはできない.しかし,散乱の少ないOligo散乱ビームを利用すれば,高い分解能が得られる.
本研究では,まず,高エネルギー電子散乱現象の解析にも対応出来るように,相対論的効果を考慮に入れた単一散乱モデルモンテカルロ法からなるシミュレーションプログラムを開発した.そして,高分解能分析装置の設計に必要な膜厚,気圧,入射エネルギーおよび構成寸法などの関係を具体的に求め,最後に,実験によってその正当性を確認した.

  • 研究成果

    (12件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (12件)

  • [文献書誌] T.Kijima,M.kotera,H.Suga,Y.nakase: "Monte Carlo Calculations on the Passage of Electrons through" Thin Films Irradiated by 300keV Electrons IEICE Transaction on Electronics. E78-C. 557-563 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] M.kotera,M.Kato,H.Suga Using: "Observation Technique of Surface Magnetic Structure Type-I Magnetic Contrast in the Scanning Electron Microscope" Digest of Papers Micro Process'95. 62-64 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] M.kotera,M.Kato,H.Suga: "Simulation of the Type-I Magnetic Contrast in the Scanning Electron Microscope" Proceedings of the 29th Annual Conference of The Microbeam Analysis Society. 379 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] H.Kumano,Z.Gang,M.kotera,H.Suga: "空気中試料観測用電子顕微鏡の実現可能性" Memoirs of the Osaka Institute of Technology Series. A40.1. 39-47 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] Z.Gang,H.Kumano,T.Kijima,M.kotera,H.Suga: "空気中試料観測用電子ビーム分析装置の検討" IEICE Transaction. C-II J78-C-II 12. 589-591 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] M.kotera,M.Kato,H.Suga Using Type-: "Observation Technique of Surface Magnetic Structure I Magnetic Contrast in the Scanning Electron Microscope" Japanese Journal of Applied Physics 6906. 34,12B. 6903 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] Z.Gang,H.Kumano,M.kotera,H.Suga: "Application of Oligo-Scattering Beam to Electron Beam Analyzer for Observing the Specimen in the Air" IEICE Transaction. (accepted). (1997)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] T.Kijima, M.Kotera, H.Suga, Y.nakase: "Monte Carlo Calculations on the Passage of Electrons through" Thin Films Irradiated by 300keV Electrons IEICE Transaction on Electronics. E78-C. 557-563 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] M.kotera, M.Kato, H.Suga Using: "Observation Technique of Surface Magnetic Structure Type-I Magnetic Contrast in the Scanning Electron Microscope" Digest of Papers Micro Process'95. 62-64 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] M.Kotera, M.Kato, H.Suga: "Simulation of the Type-I Magnetic Contrast in the Scanning Electron Microscope" Proceedings of the 29th Annual Conference of The Microbeam Analysis Society. 379 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] M.Kotera, M.Kato, H.Suga Using Type: "Observation Technique of Surface Magnetic Structure I Magnetic Contrast in the Scanning Electron Microscope" Japanese Journal of Applied Physics 6906. 34,12B. 6903-6906 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] Z.Gang, H.Kumano, M.Kotera, H.Suga: "Application of Oligo-Scattering Beam to Electron Beam Analyzer for Observing the Specimen in the Air" IEICE Transaction. (accepted). (1997)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より

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公開日: 1999-03-09  

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