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1997 年度 実績報告書

核生成・成長過程独立制御による高品位cBNプラズマ合成

研究課題

研究課題/領域番号 08405047
研究機関東京大学

研究代表者

吉田 豊信  東京大学, 大学院・工学系研究科, 教授 (00111477)

研究分担者 津田 統  東京大学, 大学院・工学系研究科, 助手 (10242041)
寺嶋 和夫  東京大学, 大学院・工学系研究科, 助教授 (30176911)
キーワード立方晶窒化硼素 / プラズマプロセス / イオン衝撃 / 核生成・成長過程 / 低バイアス化 / 高周波スパッタリング / 運動量スケーリング
研究概要

本年度は主として、高周波バイアススパッタリング法におけるcBN堆積環境の定量化と2段階堆積による低バイアス化を試みた。
(1)cBN堆積環境の定量化 cBN堆積における気相種(種としてイオン)の流束・エネルギー測定を質量・エネルギー分析器を用いて行った。イオン種は主としてB^+、N^+、N_2^+、Ar^+が観測されたが、そのいずれも高周波シースで加速されたイオンに特徴的な鞍型のエネルギー分布を示した。流束はAr^+が他のイオンの数10倍以上であり、イオン衝撃効果は主としてAr^+によるものと考えられる。これらの測定から、cBN生成に必要なイオン衝撃の程度を単位堆積B原子当たりに与えられる運動量輸送量で評価したところ、138(eV・amu)^<1/2>が敷居条件となり、イオンアシスト蒸着法による報告値とほぼ同程度の値となった。この結果は、高周波スパッタ環境における135eV〜380eVのAr^+がエネルギーに依らず等しくcBN生成のためにイオン衝撃効果に寄与していることを示唆している。
(2)核生成・成長独立制御(2段階堆積)による低バイアスcBN堆積
基板負バイアス200VでBN堆積を行い(第1段階)、cBNが核生成した後に敷居バイアス値(135V)より35V低いバイアス条件(第2段階)でBN堆積を行った。この条件においてsp^2結合相との混合相ではあるがcBN相が生成することが明らかとなり、高周波バイアススパッタ法においても2段階堆積による低基板バイアス下でのcBN堆積が可能であることが判明した。今後、2段階堆積法におけるcBN生成条件の定量化を試みるとともに、バイアスの他に基板温度、ガス組成等についても2段階堆積を試みる。また、これらの結果と、応力、結晶粒径、結晶性等との関連を検討し、cBN薄膜の高品位化を目指す。

  • 研究成果

    (3件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (3件)

  • [文献書誌] Osamu Tsuda: "Mass and energy measurements of the species responsible for cBN growth in rf bias sputter conditions" Journal of Vacuum Science & Tecnology. A15(6). 2859-2863 (1997)

  • [文献書誌] Yukiko Yamada: "Microstructure and nanomechanical properties of cubic boron nitride films prepared by bias sputter deposition" Thin Solid Films. (印刷中). (1998)

  • [文献書誌] Toyonobu Yoshida: "State-of-the-art vapor phase deposition of cubic boron nitride" Diamond Films and Technology. 7(2). 87-103 (1997)

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公開日: 1999-03-15   更新日: 2016-04-21  

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