| 研究課題/領域番号 |
08405054
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
合志 陽一 東京大学, 工学系研究科, 教授 (90111468)
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| 研究分担者 |
早川 慎二郎 東京大学, 大学院・工学系研究科, 助手 (80222222)
宮村 一夫 東京大学, 工学系研究科, 講師 (40157673)
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| キーワード | 粉末X線回折 / リ-トベルト法 / 異常散乱 / 放射光 |
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| 研究概要 |
1)リ-トベルト法プログラムを用いた回折ピークのシミュレーション
吸収端近傍のエネルギーでX線回折の測定を行った場合の原子散乱因子の変化が粉末X線回折スペクトル強度、形状に与える影響を検討するために無機材研 泉博士の作成したソフトウェア(RIETAN)を利用し、様々に単位セルについてシュミレーションを行った。また、公開されているソースプログラムを元に独自の解析ソフトを作成することに取り組んでいる。
2)エネルギー分散型粉末X線回折計の作成
大きなX線管電流での運転が可能な粉末X線回折装置(マックサイエンス・MXP3HF/2)を購入し、高いエネルギー分解能を持つX線検出器(SEIKO EG&G・XR100T)と組み合わせることでエネルギー分散型の粉末X線回折計を実現した。特性X線が励起されない低い励起電圧でX線管を使用し、連続X線を光源として粉末X線回折の測定を行う。ある固定した2θで回折X線のエネルギー分布を測定することで2θスキャンと等価な情報を得ることが可能である。また、各々の2θで同様のエネルギー分布測定を行うことで2θ-Eの2次元的なX線回折スペクトルを得ることができる。エネルギー分解能が不十分であるために同種元素中での化学状態差に関する情報は得ることができないが、吸収端前後での粉末X線回折スペクトルの変化から結晶中の特定元素の寄与を実験的に求めることが可能である。
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