| 研究課題/領域番号 |
08405054
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
合志 陽一 東京大学, 工学系研究科, 教授 (90111468)
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| 研究分担者 |
早川 慎二郎 東京大学, 大学院・工学系研究科, 助手 (80222222)
宮村 一夫 東京大学, 大学院・工学系研究科, 講師 (40157673)
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| キーワード | 粉末X線回折 / リ-トベルト法 / 異常分散 / 放射光 / 状態分析 |
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| 研究概要 |
本研究ではX線の異常散乱を起こすエネルギーが化学状態によりわずかに変化することに着目し、この現象を利用して固体の結晶格子の各サイトにある元素の非破壊状態分析を実現することを目的としている。具体的にはX線エネルギーと回折角という2つのパラメーターを用いて得られる2次元粉末X線回折パタンを解析することで構造解析と化学状態分析を同時に実現する手法を開発する。平成9年度は以下の2課題に取り組んだ
1)改良型リ-トベルト解析プログラムによる異常散乱因子の決定
昨年度に開発を行った改良型リ-トベルトプログラムを用いて吸収端近傍での異常散乱因子の決定に取り組んだ。放射光を用いて予備測定を行い、Co_3O_4試料中の異なる化学状態にあるCo原子について化学シフトを実測することができた。
2)エネルギー分散型粉末X線回折系による2次元X線回折測定
通常X線源とエネルギー分散型のX線検出系を用いてエネルギー、2θの2次元X線回折測定を行い特定元素の吸収端前後での回折強度変化から、原子散乱因子を求める手法について検討を行った。回折X線強度を正確に求めるためには蛍光X線の影響を除くことが重要であるが、蛍光X線のみを測定した場合の測定との差分をとる方法、検出器前にモノクロメーターを設置する方法などについて検討を行った。予備測定の結果、吸収端近傍での回折X線強度の変化を通常X線源を用いて観測することができた。
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