| 研究概要 |
再石灰化過程に大きな影響を与える唾液タンパク質画分で脱灰エナメル質を前処理し,その後の再石灰化過程で生成される歯表面沈着物を高分解能電顕により観察した。
一方,獲得被膜と同様に,再石灰化物質生成の阻害因子と一つであるHEBPの前処理については,多様な所見が認められたことから,再度低濃度(μM-nMレベル)の前処理が再石灰化生成物質の結晶構造に及ぼす影響を検討した。その結果,低濃度HEBPの前処理を行った脱灰エナメル質表層には300nmから3.2μmの新しい結晶が形成された。これは一日あたりの結晶成長が最大640nmであることを示している。HEBPによる前処理を行わない対照例の一日あたりの結晶成長が1μmであるのに比べれば,結晶の成長抑制がみられることは明らかであるが,μMレベルのHEBPの前処理を行った場合でも,結晶成長が完全に抑制されないことを示している(Ped.Dent.J.8巻1号,1998)。
一方,フッ素徐放性コート材(Fコート材)による脱灰エナメル質の再石灰化促進機序についてのEMPA観察結果は,Ped.Dent.J.7巻1号,(1997)にその基礎的結果を報告したが,本年度は,臨床的にF-コート材塗布を実施した乳臼歯隣接面の再石灰化過程をEPMAで観察した結果を第45回ORCA学会(1998)で報告した。その詳細はPed.Dent.J.9巻1号(1999)に投稿し,受理された。
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