| 研究課題/領域番号 |
08455164
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
藤岡 弘 大阪大学, 工学部, 教授 (40029228)
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| 研究分担者 |
三浦 克介 大阪大学, 工学部, 助手 (30263221)
中前 幸治 大阪大学, 工学部, 助教授 (40155809)
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| キーワード | EBテスター / VLSI / トランジスタレベル故障 / CADレイアウト / 階層的自動故障追跡法 |
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| 研究概要 |
CADレイアウトデータのみを利用した効率的な故障追跡を実現するために、まず、世界中で広く用いられているGDSII形式のCADレイアウトデータを読み込み、CADレイアウトの階層構造の解析を行った。これにより基本セル、ブロックセル、モジュールレベルの階層分けが可能となる。つぎに、CADレイアウトの上位階層で用いる、回路ブロック、回路モジュールの機能に依存しない入出力端子機能抽出による階層的故障追跡法を検討し、双方向バスが存在しても故障追跡が可能な追跡アルゴリズムを提案した。双方向バスの入出力判定には、電子ビームテスター測定結果を利用している。これにより回路機能に係わらず一貫した手法で階層的に故障を追跡できる。さらに、下位階層で用いる、回路機能認識に基づくレイアウト辞書を用いた階層的故障追跡法を提案した。これは、基本セルおよびブロックセルに関するレイアウト辞書を作成し、この辞書を用いて回路機能に応じて効率的に故障追跡する方法である。レイアウト辞書には、レイアウトのみならず、その回路の機能、入出力配線位置、さらに入力の中の制御入力配線位置等が納められている。階層的故障追跡法では、どのレベルで故障を追跡するかを決定することが重要である。レイアウト辞書を利用すれば、セルを構成しているサブセルの数等を知ることができ、これにより故障追跡の階層レベルを自動的に決定することができ、効率的な階層的故障追跡が可能となる。
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