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1997 年度 研究成果報告書概要

透過電子顕微鏡観察によるニッケル-水素電池合金電極の微粉化機構の解明

研究課題

研究課題/領域番号 08455321
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 構造・機能材料
研究機関名古屋大学

研究代表者

黒田 光太郎  名古屋大学, 工学研究科, 教授 (30161798)

研究分担者 坂 公恭  名古屋大学, 工学研究科, 教授 (90023267)
研究期間 (年度) 1996 – 1997
キーワード透過電子顕微鏡法(TEM) / Ni-水素電池電極 / 水素吸蔵合金 / 微粉化 / 断面TEM観察 / 平面TEM観察 / 分析電子顕微鏡法(AEM) / 集束イオンビーム(FIB)加工 / focused ion beam (FIB) fabrication
研究概要

ニッケル基の水素吸蔵合金は水素エネルギーを有効利用できる材料として期待されている。しかし、2次電池電極の負極材料に利用される水素吸蔵合金は水素の吸収と放出をくり返すうちに微粉化する問題があり、性能劣化を引き起こす。本研究においては、透過電子顕微鏡のキャラクタリゼーションにより、微粉化に伴う構造変化を微視的レベルで解明し、その防止対策の指針を得ることを目指している。
急冷凝固後、熱処理を加え、Mg_2NiとMgの2相組織となるMg-Ni系合金試料に水素吸蔵および放出を施した試料を調べた。集束イオンブビーム加工によって透過電子顕微鏡観察試料を作製し、分析電子顕微鏡法を駆使して微細構造観察を行った。水素吸蔵・放出を5回くり返した試料では微粉化が顕著で、水素の出入りに伴う歪みの影響で粒界における分離が生じたと考えられる。
水素吸蔵合金であるLaNi_5の微粉化機構の基礎的知見を得るためにこの合金の塑性変形挙動を調べた。650℃以下では塑性が全く見られなかったが、650℃から850℃ではクラックは発生するものの塑性変形の兆しが見られた。これより高温では60%を越える圧縮変形が可能であった。変形試料の微細構造を電子顕微鏡で観察し、変形によって転位や亜粒界が導入されていることが分かった。加工によって多くの転位を含む合金電極では、水素が転位にトラップされやすく、微粉化しやすいと考えられる。
ラーベス相のジルコニウム合金の水素吸蔵性と微細構造の関連についても調べた。転位が多い試料ほど水素吸蔵性が高い傾向が見られた。このことと微粉化の関連について追及する必要がある。

  • 研究成果

    (10件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (10件)

  • [文献書誌] 黒田 光太郎: "集束イオンビームによるピンポイント試料の作製" 第12回分析電子顕微鏡討論会予稿集. 53-58 (1996)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] 黒田 光太郎: "FIBの原理といくつかの応用例" 日本電子顕微鏡学会第42回シンポジウム論文集. 41-44 (1997)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] K.Kuroda: "Application of focused ion beam milling to cross-sectional TEM specimen preparation of industial materials including hetero-interfaces" Thin Solid Films. (in press). (1998)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] A.Nohara: "High-temperature deformation of hydrogen-absorbing LaNi_S alloy and identification of dislocations" Proc.the Special Symposium on Advanced Materials. (in press). (1998)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] K.Saito: "Microstructural studies of unhydried and dehydried Laves phase in Zr alloy" Proc.the Special Symposium on Advanced Materials. (in press). (1998)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] K.Kuroda: "TEM pin-pointed specimen preparation by focused ion beam fabrication" Proc.of 12th Annual Conference on Analytical Electron Microscopy. 53-58 (1996)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] K.Kuroda: "Principle of FIB and its application to TEM specimn fabrication" Proc.42nd symposium of Japanese Society of Electron Microscopy. 41-44 (1997)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] K.Kuroda, M.Takahashi, T.Kato, H.Saka: "Application of focused ion beam milling to cross-sectional TEM specimen preparation of industial materials including hetero-interfaces" Thin Solid Films. (in press). (1998)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] A.Nohara, K.Okada, H.Saka: "High-temperature deformation of hydrogen-absorbing LaNi_5 alloy and identification of dislocations" Proc.the Special Symposium on Advanced Materials. (in press). (1998)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] K.Saito, K.Kuroda, H.Saka, K.Itoh, S.Towata: "Microstructural studies of unhydried and dehydried Laves phase in Zn alloy" Proc.the Special Symposium on Advanced Materials. (in press). (1998)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より

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公開日: 1999-03-16  

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