これまでの方法では知ることのできなかったFコート材直下の状態を電子線微小部分分析装置(EPMA)を用いて観察することを計画した。Fコート材を塗布した後に、Fコート材から遊離したフッ素イオンが周辺酸処理エナメル質に取り込まれる様相を経時的に観察した。すなわち、周辺酸処理エナメル質がフッ素を取り込むと同時に、再石灰化していく過程をCa、P、F、Mgについてmappingした。観察した全てのFコート材はFコート材中に一様にフッ素を含有しているのではなく、フッ素濃度の高い部分が塊状にFコート材中に分散していることが観察された。 これらの実験はFコート材をエナメル質の一定面積に塗布し、重合させた後フッ素を含まない石灰化液に浸漬したものであるが、浸漬後、30分ではCa、PおよびFはFコート材直下および周辺酸処理エナメル質でもはっきりとした変化は見られなかった。MgはFコート材周辺の酸処理エナメル質で明らかな溶質が認められた。その後は時間の経過とともにFコート材直下および周辺でより多くのFが認められ、CaとMgの回復が周辺エナメルで認められた。周辺エナメル質の状態はエナメル質生検法の結果をEPMA観察結果が裏付けるものであったが、周辺エナメル質のMgの再沈着は興味ある所見であり、検討を重ねる予定である。
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