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(1)画面を入射する散乱X線スペクトルの測定
半角45度の円錐型コリメータを検出器の前に置いて、ビーム軸上にビームストッパを置いて、この直径を少しずつ小さくして行ってスペクトル測定し、外挿法で散乱線スペクトルを求めた。次ぎにストッパーを取り除いて(一次線+散乱線)のスペクトルを測定した。両者の差は一次線スペクトルとなる。こうして、画像上の一点に入射する一次線と散乱線を分離出来た。散乱線除去用グリットを入れた場合には、この方法で測定したスペクトルと増感紙の感度スぺくトルから散乱線含有率を求めて、蛍光量計で求めた値と比較して良く一致したので、このスペクトル測定法が妥当であると結論できた。
(2)新しいX線スペクトル測定器としてCdZnTe半導体を用いる方法の研究を開始した。
(3)画質の研究の一つとして、増感紙・フィルム系を用いて作成したX線像の粒状のウィナースペクトルの管電圧依存性を求め、その結果を量子効率を用いて理論的に説明した。この方法を使えば、散乱X線と粒状とを結びつける事ができる見込みである。
(4) (3)で述べた粒状を肉眼で見るときの主観的評価結果を説明するために、我々が長年に亘って測定してきた、視覚の効果(最小識別濃度差の空間周波数依存性)を用いて、粒状のウィナースペクトルを心理物理的に修正し、積分して心理物理的標準偏差を求めればよいことがわかった。このときの等価空間周波数も求めた。
(5)代表者の金森が1960年代に提案した最適撮影条件を求める方法、胸部X線写真に適用した。その結果、散乱X線のために、実際の最適管電圧はこの方法で求めた値より高くなり、その結果、被曝線量が減少する事が分かった。
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