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2009 年度 実績報告書

分子線エピタキシー法による酸化ガリウム系深紫外発光ダイオードの作製と評価

研究課題

研究課題/領域番号 08J06591
研究機関京都大学

研究代表者

大島 孝仁  京都大学, 工学研究科, 特別研究員(DC2) (60583151)

キーワード酸化ガリウム / 分子線エピタキシ / ホモエピタキシ / 深紫外光機能 / デバイスプロセス / 発光ダイオード / 光検出器 / パワーデバイス
研究概要

4.8eVの禁制帯幅を持つ酸化ガリウム(Ga_2O_3)半導体に着目し、分子線エピタキシー(MBE)による高品質結晶の育成と伝導性制御により波長300nm以下の深紫外領域での発光ダイオードを目指して研究を行った。結果としてGa_2O_3のキャリア再結合過程が予想以上に複雑であることがわかり、発光ダイオードを実現するには至らなかったが、光検出器やパワー電子デバイスへの展開に大きな道を拓くことができた。平成21年度の研究実績を以下に示す。
1.Ga_2O_3基板を用い、O_2ラジカルソースMBEによりGa_2O_3および(AlGa)_2O_3半導体薄膜の成長を行う条件を検討した。Ga_2O_3基板を1000℃程度で酸素雰囲気中で熱処理を行うことで、Al組成0.4までステップフローによる平坦性および結晶性の優れたホモエピ成長膜を得ることができた。
2.MBEで得られた薄膜の光学評価を行ったが、バンド端発光を得るに至らなかった。一方光吸収測定では直接遷移型のバンド構造を確認した。このことから、未知の緩和過程があることが示唆され、今後の基本的な光物性研究の必要性を提起した。
3.発光機能の探索の一方で深紫外域の受光機能について調べた。Ga_2O_3基板によるショットキー型光検出器を試作したところ、高出力の深紫外光に対しても劣化することなく安定に動作する一方、通常の照明下で1.5nW/cm^2の深紫外光を検出する能力をもつことがわかり、高感度の炎検出を実証した。
4.Ga_2O_3のデバイス応用に不可欠なプロセスとしてウェットエッチングの条件を探索し、硫酸、硝酸系溶液によるエッチング条件を見出した。

  • 研究成果

    (6件)

すべて 2009

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (4件)

  • [雑誌論文] Wet etching of β-Ga_2O_3 substrates2009

    • 著者名/発表者名
      Takayoshi Oshima
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 48

      ページ: 040208(1-3)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] β-Al_<2x>Ga_<2-2x>O_3 thin film growth by molecular beam epitaxy2009

    • 著者名/発表者名
      Takayoshi Oshima
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 48

      ページ: 070202(1-3)

    • 査読あり
  • [学会発表] ワイドバンドギャップ酸化物半導体β-Ga_2O_3を用いた炎センサ2009

    • 著者名/発表者名
      大島孝仁
    • 学会等名
      2009年秋季第70回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      富山
    • 年月日
      2009-09-09
  • [学会発表] Al_<2x>Ga_<2-2x>O_3 thin film growth by molecular beam epitaxy2009

    • 著者名/発表者名
      大島孝仁
    • 学会等名
      36th Int.Symp.Compound Semiconductors
    • 発表場所
      Santa Barbara, USA
    • 年月日
      2009-08-31
  • [学会発表] Solar-blind photodetector based on β-Ga_2O_3 and its application to a flame sensor2009

    • 著者名/発表者名
      大島孝仁
    • 学会等名
      6th Int.Symp.Transparent Oxide Thin Films for Electronics and Optics
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2009-04-16
  • [学会発表] Patterning of β-Ga_2O_3 for device fabrication2009

    • 著者名/発表者名
      大島孝仁
    • 学会等名
      6th Int.Symp.Transparent Oxide Thin Films for Electronics and Optics
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2009-04-16

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公開日: 2011-06-16   更新日: 2016-04-21  

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