| 研究課題/領域番号 |
09045034
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| 研究機関 | 名古屋工業大学 |
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研究代表者 |
田中 清明 名古屋工業大学, 工学部, 教授 (00092560)
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| 研究分担者 |
IVANOV I. メンデレーフ化学技術大学, 理学部, 助手
TSIRELSON V. メンデレーフ化学技術大学, 理学部, 教授
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| キーワード | X線回折法 / 電子密度分布 / X線原子軌道解析 / 多重極解析法 / VCIP法 / トポロジカル解析 / 真空カメラ |
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| 研究概要 |
本年度は前年度の研究打ち合わせに基づき、KNiF_3結晶のX線回折強度を、4軸回折計により再測定するとともに、研究代表者が開発した真空カメラを用いて精密測定し、両国独自の方法を用いて共同で解折して比較した。ちなみに真空カメラによるX線回折強度測定法を真空カメライメージングプレート法(VCIP法)と命名した。理論家であるTsirelson教授は本年度メンデレーフ化学技術大学において量子化学学科の新設責任者になったので多忙であり、本年3月初めにやっと来日できたため、本実績報告書執筆時には、本年度の共同研究を実施中であるので、現在までにえられた結果について述べる。
X線原子軌道解析法および多重解析法による解析結果は、基本的には一致した。KNiF_3結晶については、諸外国でも多極子解析の例があるがあ、X線原子軌道解析の結果とは異なる結果が提示されており、これが今回の研究を始める動磯のひとつであった。しかし、研究代表者の研究室で、多重反射を避け、入射X線の強度変動を0.5%以下にして行った高精度測定データを使用すると、両者の結果に本質的な差のないことが確認できた。次に、トポロジカル解析により、電子密度分布の特異点を計算してみると、VCIP法は4軸回折計による測定では、明らかに差があることが分かった。差フーリエ図では大きな差は認められないので、トポロジカル解析の需用制が認識できた。尚、VCIP法では、今まで見落とされていた検出器であるIPの強度補正法を発見したが、この方法を更に精緻にし、また、すでに開発を終えた結晶方位決定法を適用して、測定精度向上を図る予定である。
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