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[文献書誌] 窪野隆能: "閉成責務Ag/CdO電気接点における分離不良発生時の転移突起形状に関する一研究"電子情報通信学会論文誌C. Vol.J83-C,No.4. 300-307 (2000)
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[文献書誌] 窪野隆能,大田原茂: "制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究(その17)開閉責務動作Pd接点対における転移突起"2000年電子情報通信学会ソサイエティ大会 講演論文集2. C-5-1. 1 (2000)
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[文献書誌] 渡邊隆志,守永和史,窪野隆能: "制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究,(その18),Ag/SnO_2電気接点とAg/CdO電気接点の閉成責務動作動作時の比較演"平成12年度電気関係学会東海支部連合大会論文集. 144. 72 (2000)
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[文献書誌] 窪野隆能,大田原茂: "制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究,(その19)Pd電気接点対での開離及び閉成責務動作時のバウンス回数比較"平成12年度電気関係学会東海支部連合大会 講演論文集. 145. 73 (2000)
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[文献書誌] Mitsuru TAKEUCHI,Takayoshi KUBONO: "Spectroscopic Determination of Temperature and Metal-Vapor for Copper Breaking Arc by Using a CCD Color Camera and an Additional Filter"IEICE Trans.Electronics. Vol.E83-C,No.9. 1377-1384 (2000)
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[文献書誌] 窪野隆能,別宮達二,大田原茂: "制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究(その20)直流30V-10Aの抵抗性回路内のPd電気接点対での転移突起"電子情報通信学会機構デバイス研究会. EMD2000-70. 13-18 (2000)
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[文献書誌] 渡邊隆志,守永和史,別宮達二,窪野隆能: "制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究(その21)電気接点材料の突起形状と電気的特性に及ぼす影響"電子情報通信学会機構デバイス研究会. EMD2000-91. 13-18 (2001)
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[文献書誌] 窪野隆能,別宮達二: "制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究(その22)閉成責務及び開離責務Ag接点の損傷程度"平成13年電気学会全国大会 講演論文集,. (2001)
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[文献書誌] 窪野隆能,渡邊隆志,別宮達二: "制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究(その23)閉成責務動作Ag接点対における転移突起"2001年電子情報通信学会総合大会 講演論文集. (2001)
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[文献書誌] 窪野隆能: "閉成責務動作Ag/SnO_212wt%電気接点で陰極面にできる転移突起の変容に関する一観察"電子情報通信学会論文誌C. Vol.J84-C,No.4.(2000年12月に掲載決定(4月号予告)). (2001)