本研究は、大型サイロ内での穀物水分むらによるカビや品質劣化の発生原因を追究して、これに関与する水分移動機構を実験的かつ理論的に解明するとともに、サイロ内の穀物水分分布の異常がモニタリングできる計測システムを開発することを目的としている。本年までのサイロ内の水分移動に関する研究から、サイロ内の水分むら発生の主な原因がサイロ上部空間の温度差による壁面結露であることが明らかになるとともに、マイクロ波反射式のTDR、および透過式のTDT法による水分分布計測のから、籾層水分分布の異常を検知しうることが分かった。本年度は、最終年度にあたり、これまでのサイロ内水分移動に関する研究と、マイクロ波反射式のTDRおよび透過式TDT法による水分分布計測の研究成果をふまえ、厚い籾層内部の水分のモニタリング方法をさらに追求・確認するとともに、新たに、籾層表面の水分分布について、近赤外分光法による可視化計測実験を試みた。まず、厚い層として、1mの穀物層にマイクロ波を投射し、反射波を受信して波形や反射時間などを解析した結果、平均水分の計測や、水分分布状態や異常を検知することができた。次に、小規模の籾層表面に対し、近赤外域の水分吸収波長である970nm付近の複数の波長を用いて、分光画像を得た。各種の画像処理を行って、水分分布の可視化を試みた結果、籾層表面の水分分布画像を得ることができた。
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