| 研究課題/領域番号 |
10305045
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
金属物性
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| 研究機関 | 名古屋大学 |
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研究代表者 |
坂 公恭 名古屋大学, 工学研究科, 教授 (90023267)
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| 研究分担者 |
佐々木 勝寛 名古屋大学, 工学研究科, 講師 (00211938)
黒田 光太郎 名古屋大学, 工学研究科, 教授 (30161798)
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| 研究期間 (年度) |
1998 – 2000
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| キーワード | 亀裂 / 透過電子顕微鏡 / 転位 / バルク結晶 / 集束イオンビーム法 |
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| 研究概要 |
材料の破壊は材料科学の最重要課題のひとつである。材料の破壊の研究には、2つのアプローチが存在する。その1つは巨視的なアプローチで、その対極に位置する方法は計算機によるシミレーションである。しかし、この両者を橋渡しするメゾスコピックな尺度での亀裂の挙動に関する情報が現在欠落している。
メゾスコピックなアプローチとしては透過電子顕微鏡(TEM)が最適である。しかし、亀裂先端部からTEM用薄膜試料を作製することは容易ではない。
本研究では、集束イオンビーム(FIB)法を適用してバルク結晶内に亀裂を導入し、亀裂が薄膜試料の表面と平行になるようなTEM試料を作製し、バルク結晶内での亀裂先端部の構造変化を透過電子顕微鏡で観察するもことにより、これまで欠落していた破壊のミクロとマクロの研究の橋渡しをすることを目的としている。
Siの他に、GaAs、アルミナや準結晶といった脆性材料の亀裂先端部の観察を行い、基礎的知見を得た。
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