| 研究課題/領域番号 |
10555329
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 研究機関 | 東京農工大学 |
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研究代表者 |
奥山 健二 東京農工大学, 工学部, 教授 (30038020)
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| 研究分担者 |
東 常行 理学電機(株), X線研究所, 研究職
勝部 幸輝 高輝度光科学研究センター, 研究職
野口 恵一 東京農工大学, 機器分析センター, 講師 (00251588)
神鳥 成弘 東京農工大学, 工学部, 講師 (00262246)
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| キーワード | 繊維状高分子 / X線回析 / イメージングプレート / 結晶性高分子 / ファイバーディフラクション / 結晶構造解析 / X線強度測定システム |
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| 研究概要 |
本研究の目的は、代表者らが最近完成させた研究室のレベルでのイメージングプレート(IP)を用いた結晶性高分子のためのX線構造解析システムを、GUI(Graphic User Interface)化と、改良を進めることにより、世界的にも通用する解析システムに進化させることにある。本年度は次の点において研究の進展をみた。
1 既存システムはサン(SUN)ワークステーション上で稼働しているが、グラフィックス機能に優れたシリコングラフィックス(SG)製のワークステーション上で稼働するようにプログラムの書き換えを行った。ただし、当初の計画では全てのシステムを書き換える計画であったが、その後の検討により、X線データ測定から強度データ処理まではSGで、その後の構造解析部分は現在急速に普及してきたウインドウズマシーンによる方が効率的であると考え、データ処理部までの書き換えのみを行った。構造解析には長時間が必要であるのに対し、データ処理は短時間で終了するので、安価なウインドウズマシーンを複数台稼働して解析を進めることにより、高価なワークステーションの稼働を効率的にする事を考えた。今後、バグを除く作業を行う必要がある。
2 解析部のGUI化もある程度進み、先に述べたように、ウインドウズマシーン上で働くように書き換えている。これについては、国際結晶学会(1999年8月、Glasgow)の企業用展示ブースでラップトップパソコンを持ち込み公開する予定である。
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