研究課題/領域番号 |
10555329
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研究機関 | 東京農工大学 |
研究代表者 |
奥山 健二 東京農工大学, 工学部, 教授 (30038020)
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研究分担者 |
勝部 幸輝 高輝度光科研究センター, 参与(研究職)
野口 惠一 東京農工大学, 機器分析センター, 講師 (00251588)
神鳥 茂弘 東京農工大学, 工学部, 講師 (00262246)
東 常行 理学電機株式会社, X線研究所, 部長(研究職)
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キーワード | 繊維状高分子 / X線回析 / イメージングプレート / 結晶性高分子 / 結晶構造解析 / 強度測定システム / 組織回析 / ファイバーディフラクション |
研究概要 |
本研究の目的は、代表者らが最近完成させた研究室レベルでのイメージングプレート(IP)を用いた結晶性高分子のためのX線構造解析システムを、GUI(Gfaphic Userlnterface)化と、改良を進めることにより、世界的にも通用する解析システムに進化させることにある。本年度は次の点において研究の進展をみた。 (1)既存システムを使って無水キトサンの結晶構造の解析を行い、本システムにより精密なデータが得られたこともあり、これまで発表されていた構造の修正が出来、より信頼できる構造となった。この成果はInt.J.Biol.Macromolに発表した。また、未知化合物であるII型キトサンの分子構造についてもこのシステムを使って解析し、J.Carbohydr.Chem.より速報として出版される予定である。また、このシステムを利用してゴムの構造研究をしたいとのタイの研究者からの共同研究の申し出もあった。このように、本システムはまだ完成したものではないが十分に成果を上げている。個々の解析中に見つけた問題点はシステムの改良へとフィードバックしている。 (2)昨年の国際結晶学会(1999年8月、Glasgow)での本システムの紹介は関係研究者から高く評価された。今年は国内の高分子学会でも紹介する予定で準備を進めている。 (3)ウインドウズマシーン上でのLALSプログラムの作動は問題のない段階になったが、GUI化したデータ入力部については未知化合物の場合にはさらなる工夫が必要である。来年度も継続して改良する。
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