| 研究課題/領域番号 |
10837015
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
電磁場環境
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| 研究機関 | 東北学院大学 |
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研究代表者 |
芳賀 昭 東北学院大学, 工学部, 教授 (20048820)
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| 研究分担者 |
松木 英敏 東北大学, 工学部, 教授 (70134020)
遠藤 銀朗 東北学院大学, 工学部, 教授 (80194033)
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| 研究期間 (年度) |
1998 – 2000
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| キーワード | umuオペロン / DNA損傷 / 極低周波磁界 / 突然変異修復遺伝子 / mutation repairing gene |
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| 研究概要 |
平成10年度
1.実験用極低周波磁曝装置の開発
(1)地球磁界打ち消しコイルを製作し、さらに、(2)ELFMF印加用コイルを製作し、(3)Incubator bottle内の温度制御装置の製作した。
2.umu assay法のプロトコールの確立。
DNA損傷の検出方法であるumu assay法に基づく極低周波曝磁による遺伝子突然変異実験のプロトコールを確立した。
平成11年度
3.遺伝子突然変異誘発の基礎実験
10年度に整備した、実験用低周波磁曝装置およびumu assay法に基づく低周波曝磁による遺伝子突然変異実験のプロトコールを用いて、遺伝子突然変異誘発の実験を行った。20Hzから100Hzの範囲で周波数を変化し、また、磁界強度については、我々の生活環境に存在する程度の弱磁界強度1.2μTのELFMFを曝露し、細菌の培養温度をを42℃と37℃に設定した条件でそれによる遺伝子突然変異誘発の実験をおこなった。その結果、本実験で得られたデータはばらつきの範囲とも考えられ、ELFMF曝露による遺伝子突然変異誘発に十分な有意差があると判断するに至らなかった。
平成12年度
この結果を踏まえ、より高い検出感度や測定可能なダイナミックレンジの広い評価システムの開発を行った。すなわち、突然変異修復遺伝子(umuD,umuC遺伝子)の下流に発光遺伝子(lux遺伝子)を組み込み、遺伝子に損傷がおこり、突然変異修復遺伝子が発現すると発光遺伝子が発現し発光する細菌を遺伝子組み替え技術により作り、その発光強度により、遺伝子の損傷の程度を定量的に測るシステムを構築した。この細菌に50Hz、140μTのELFMFを2時間曝露し、発光量により遺伝子突然変異誘発を定量的に評価した。この結果、サンプル数は少ないが発光の強さは磁界曝露により増加する傾向が得られた。今後さらに実験回数を重ねて統計的に有意差があるかどうかを明らかにしなければならない。
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