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1998 年度 実績報告書

高分解能電子線ホログラフィー法による金属中の原子空孔及び微小集合体観察法の開発

研究課題

研究課題/領域番号 10875123
研究機関広島大学

研究代表者

下村 義治  広島大学, 工学部, 教授 (40033831)

研究分担者 杉尾 健次郎  広島大学, 工学部, 助手 (90294545)
向田 一郎  広島大学, 工学部, 助手 (70209980)
キーワード電子線位相の検出 / 電子線ホログラフィー / ボイド / 微小点欠陥集合体の観察 / 格子欠陥 / 電子線バイプリズム / モアレ模様 / 小角散乱の位相差への影響
研究概要

電子線バイプリズムを装備したフイールド・エミッション電子銃電子顕微鏡により金属中のボイド(空洞)のホログラフィー観察を行い、微小な原子空孔集合体観察の可能性を調べる事が本研究の目的である。今回の実験では原子空孔集合体としては原研JMTR原子炉で300℃中性子照射した純銅中のサイズ11nmボイドと京都大学原子炉実験所KUR原子炉で300℃中性子照射した純銅中のサイズ3nmのボイドを用いた。ボイドを含む試料に対して垂直に入射し透過した波と試料のない部分を通過した参照波電子線をバイプリズムの両側に通過させ曲げて干渉させてホログラムを作りslow scan CCDカメラで撮影した。ホログラムは平行な線よりなっており,ボイドの存在部ではこれらの干渉線がわずかにずれる事によりボイドの存在を認識する。このホログラム干渉線のボイドの存在によるずれの検出は直視しただけでは難しいので試料を取り出してバイプリズムの両側を通過した電子線を干渉させて製作した等間隔の線よりなるホログラムを作りこれとボイド部を通過させて製作したホログラムを比較する事によりボイドの存在を検出する方法を採った。ボイド部を通過させた電子線でのホログラムと試料をぬきとって撮影したホログラムはバイプリズムの印加電圧をわずかに変えて線の間隔をわずかに変化させている。この二枚のホログラムの強度の差をコンピュータ上で計算してやるとモアレ模様を含む合成ホログラムが出来てモアレ模様の変形よりボイドの存在が確認される。この方法では電子線がボイド部を通過するときの金属内通過との電子線の位相差を検出する事によりボイドの検出する方法を採っている。電子線が原子空孔集合体周辺の歪場により小角散乱を受けた場合には対物レンズ通過中の行路差により生ずる位相差を利用する方法を現在企てている。

  • 研究成果

    (7件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (7件)

  • [文献書誌] Y.Shimomura: "Point defects and their clusters in BCC metals" Comp.Mater.Sci.in press. (1998)

  • [文献書誌] Y.Shimomura: "Vacancy generation in deformed thin metal" Comp.Mater.Sci.in press. (1998)

  • [文献書誌] I.Mukouda: "Damage Evolution in Neutron-irradiated Cu during Neutron Irradiation" J.Nucl.Mater.in press. (1999)

  • [文献書誌] Y.Shimomura: "Computer simulation on the void formation in neutron-irradiated Cu and Ni at high temperature" J.Nucl.Mater.in press. Y.Shimomura (1999)

  • [文献書誌] Atomistic processes of damage evolution in neutron-irradiated Cu and Ni at high temperature: "Radiation Effects and Defects in Solids" in press. 1999.

  • [文献書誌] Y.Shimomura: "Void formation in neutron-and ion-irradiated copper and nickel" Proceedings of Microstructural Processes in Irradiated Materials, edited by S.J.Zinkle et al., MRS 1998, Boston. in press. (1999)

  • [文献書誌] Y.Shimomura: "Proceedings of the Symposium on “STRUCTUAL DEFECTS IN ADVANCED MATERIALS"" Gordon and Breach Science Publishers (in press), 1999

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公開日: 1999-12-13   更新日: 2016-04-21  

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