| 研究概要 |
本年度は,有機半導体の電子構造と実デバイスの電気特性を同一システムで評価できるように測定チャンバーを新規に設計した。また,光電子収量分光(PYS)における信号検出法についても,従来の電流計による検出法よりも高感度化が期待されるパルスカウントに着手した。チャンネルトロンを用いたパルスカウントの場合、電流計を用いた場合に比べて2桁以上ダイナミックレンジが広がることがわかった。従って,HOMO-LUMOギャップに存在すると考えられている微少状態密度を直接観測する際に有効になると期待される。但し,感度が増した分だけ迷光や反射光などの外部要因の影響を受けやすいこともわかった。閾値分光であるPYSにおいてこうしたゴースト信号は実験データの信頼性にかかわる問題である。この問題に対しては,電子レンズを設計して組み込むことで対処する。電子レンズの導入によって反射光の影響を排除すると共にさらなる高感度化を狙う。
また,電子構造に関してPYSと相補的な情報を得られる低エネルギーUPS装置をPYSシステムに増設した。PYS用途の超低迷光分光光源を用いることで,従来のHe放電管を用いたUPSに比べて圧倒的に高分解能なスペクトルを高感度に測定できることがわかった。光電子放出強度をlogスケールで表示しても十分解析に堪えるスペクトルが得られることから,太陽電池や有機ELなどのモデル界面におけるギャップ準位や界面微少状態密度の測定に応用できると期待している。
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