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探針を修飾することにより探針先端部の電子状態を制御し、力学的相互作用がどのように変化するかを検討する。また、試料を半導体表面から金属表面に変えることによって、力学的相互作用がどのように変化するかを検討した。
1)修飾探針・半導体表面間の力学的相互作用に関する実験的検討
探針を修飾することにより、探針先端部の電子状態を制御することができる。このような修飾した探針を用いて、探針・半導体表面間の力学的相互作用がどのように変化するかを検討した。なお、修飾した探針としては、水素終端した探針や各種金属で修飾した探針を用いた。前者は、結合手を持たない場合であり、非常に安定で不活性な探針となる。後者については、試料表面に吸着した金属と同種の金属で修飾した場合と、異種の金属で修飾した場合とで、どのように力学的相互作用が変化するかを検討した。
2)探針・金属表面間の力学的相互作用に関する実験的検討
試料表面として金属表面を取り上げ、探針・試料間距離を変えながら画像を取得した。半導体表面と同じように、画像のコントラストと表面の結晶構造や電子状態とを比較することにより、どのような相互作用が画像化されているかを検討した。なお、金属表面としては、フェルミ準位付近に4s電子軌道のあるAg(111)表面と4d電子軌道のあるPd(110)表面を取り上げる。4s電子軌道と4d電子軌道に対する力学的相互作用の違いを検討した。
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