| 研究概要 |
パンコムギで独自に開発された染色体部分欠失系統を用いて、感度の鋭敏なディファレンシャルディスプレイ法を応用し、遺伝子発現の差を確実に検出できる実験系を確立した(AMF法)。本研究ではこの直接的遺伝子単離法をコムギの栽培化に最も重要な種子の脱穀性(threshing)を制御するQ遺伝子の単離に適用し、実際にQ遺伝子をクローニングすることを計画した。さらに、花成制御関連遺伝子にもこの手法を適用した。えられたクローンをコムギに形質転換し、機能を確かめることを目標にした。AMF法でQ遺伝子の候補DNA断片をえた。このDNA断片をプローブにしてサザンハイブリダイゼーションを行い、この断片がQ遺伝子と組み換え価0であることを確かめた。また、ノーザンハイブリダイゼーションにより幼穂で特異的に発現していることを確かめた。しかし、マッピング集団で分離してしまい、新たな候補クローンが必要となった。欠失系統を用いてサブトラクション法により新たな候補クローンをえた。現在、このクローンを解析している。
コムギでは、早生系統の育成が待ち望まれている。花成関連遺伝子Hd1,FTホモローグcDNAをクローニングした。さらに、コムギHd1遺伝子のゲノミッククローンを単離し、遺伝子構造を解析した。特定のゲノム(Dゲノム)由来の遺伝子が発現していなかった。組織特異的に発現する遺伝子を効率よくクローニングできるシステムを開発した。
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