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末梢神経損傷後、脊髄後根神経節(DRG)ニューロンの細胞体を起源として発生する自発放電は、神経損傷による慢性疼痛(neuropathic pain)の原因の一つと考えられている。本研究では、このDRGニューロンの自発放電の発生機序について、ペースメーカ電流と考えられている過分極誘発内向き電流(I_h)に着目し、イオンチャンネル機構のレベルで検討を進めている。実験には独自に開発した「ラットのDRG坐骨神経付着標本」を用い、DRGニューロンからWhole cell patch clamp記録を行っている。今年度は、DRGニューロンのI_hについて以下の知見を得た。
1.I_hは、C-typeのDRGニューロンの一部を除き、ほとんどのDRGニューロンに認められた。I_hの電流密度は、Aα/β-typeのDRGニューロンで高く、Aδ-及びC-typeのDRGニューロンでは低い傾向にあった。
2.ゼネカ社で開発されたI_hブロッカーZD7288は、DRGニューロンI_hを選択的に強く抑制した。
3.ZD7288によるI_hの抑制は、DRGニューロンの静止膜電位を過分極させ、さらに、脱分極性パルスにより誘発されるスパイク放電の発火頻度を減少させた。
これらの結果から、I_hはDRGニューロンの興奮性を高める作用があり、神経損傷後、自発放電が発生した場合には、そのスパイク放電を促進する働きがあるものと想定される(平成11年度日本神経科学会[大阪]、1999年国際疼痛学会[ウィーン]にて発表)。
今後は、神経損傷モデルラットに発現する自発放電に対し、ZD7288によるI_h抑制が及ぼす作用を解析し、I_hと自発放電、さらにはneuropathic painとの関連を検討する。
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