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2011 年度 実績報告書

触媒表面を基準面とする化学研磨法の開発

研究課題

研究課題/領域番号 11J00707
研究機関大阪大学

研究代表者

定國 峻  大阪大学, 大学院・工学研究科, 特別研究員(DC2)

キーワード窒化ガリウム / 化学研磨 / 固体触媒 / CMP / 光電気化学エッチング
研究概要

窒化ガリウム(GaN)は直接遷移型のワイドギャップ半導体であり次世代高性能デバイス用材料として注目されている.その優れた物性を最大限に活用したデバイスの実現には基板表面を原子レベルに平坦化することが必要不可欠である.しかしGaNの機械的・化学的安定性から加工は困難であるため研磨技術の確立は達成されていない.そこで我々は,触媒作用を援用した新しい化学研磨法の開発を行いGaN基板の平坦化に成功した.既に,触媒として白金を用いることで直線的な原子ステップ構造を有する平坦なGaN表面を作製することに成功しており,他技術に対して優位な平坦化技術であることが示されていたが,実用上の観点から加工速度が不十分であることが課題であった.本加工法はエネルギー的に不安定な原子ステップ端から選択的に加工が進行するため,「ステップ端密度」と「ステップ端のエッチング速度」の積が加工速度となる.本年度はその両者の増加を目的とした取り組みを行った.
前者について,光電気化学(PEC)エッチングを援用することで改善を図った.PECエッチングはテラス上でも進行するためエッチピットが表面にランダムに形成され,触媒加工の起点となるステップ端の密度が増加したとみなせる.これにより加工速度を約10倍に向上させることに成功した.
後者については,未解明である加工原理の理解を足がかりとして,加工系の最適化を行うことで改善を試みた.基礎的な加工実験に加えて第一原理計算を用いた考察を行うことで,特に触媒・溶液間の反応経路を明らかにするとともに,加工速度改善に向けて有望と考えられる触媒表面の制御方法と,複数の触媒材料を見出すことに成功した.候補となる触媒材料には,薬液により容易に溶解可能なものも含まれており,白金触媒による表面の汚染問題も同時に解決されると考えられる.

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

実施計画として挙げていた「加工原理の解明」,「Pt研磨の加工速度向上」,「Pt代替材料の検討」の3点についていずれも有意な進展がある。加工原理については全容解明には至っていないものの,有望な代替材料を複数見出しており,加工速度向上のみならず,加工原理解明における有用な情報となりうる。

今後の研究の推進方策

本加工法は窒化ガリウムのみならず,他の窒化物材料や酸化物材料も加工可能であることが明らかとなってきている.これらの材料も同様のメカニズムで加工が進行することが示唆される結果を得ているため,高速に加工可能な材料を用いて実験を行うことで加工時間の大幅な短縮をはかり,加工原理の解明を早期に行う.また,装置の改善を行うことで十分な加工再現性を実現し,信頼性の高い結果を得られるよう試みる.

  • 研究成果

    (8件)

すべて 2012 2011

すべて 雑誌論文 (4件) (うち査読あり 4件) 学会発表 (4件)

  • [雑誌論文] Atomically Controlled Chemical Polishing of GaN Using Platinum and Hydrofluoric Acid2012

    • 著者名/発表者名
      定國峻, 村田順二, 佐野泰久, 八木圭太, 岡本武志, 橘一真, 浅野博弥, 山内和人
    • 雑誌名

      Physica Status Solidi C

      巻: 9 ページ: 433-435

    • DOI

      10.1002/pssc.201100406

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Efficient Wet Etching of GaN (0001) Substrate with Subsurface Damage Layer2011

    • 著者名/発表者名
      定國峻, 村田順二, 八木圭太, 佐野泰久, 岡本武志, 有馬健太, 服部梓, 山内和人
    • 雑誌名

      Journal of Nanoscience and Nanotechnology

      巻: 11 ページ: 1-4

    • DOI

      10.1166/jnn.2011.3897

    • 査読あり
  • [雑誌論文] TEM Observation of 8 deg off-axis 4H-SiC (0001) Surfaces Planarized by Catalyst-Referred Etching2011

    • 著者名/発表者名
      定國峻, Ngo Xuan Dai, 佐野泰久, 有馬健太, 八木圭太, 村田順二, 岡本武志, 橘一真, 山内和人
    • 雑誌名

      Materials Science Forum

      巻: 679 ページ: 489-492

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/MSF.679-680.489

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Influence of Gallium Additives on Surface Roughness for Photoelectrochemical Planarization of GaN2011

    • 著者名/発表者名
      定國峻, 村田順二, 八木圭太, 佐野泰久, 有馬健太, 岡本武志, 橘一真, 山内和人
    • 雑誌名

      Physica Status Solidi C

      巻: 8 ページ: 2223-2225

    • DOI

      10.1002/pssc.201001094

    • 査読あり
  • [学会発表] Structural Observation of 4H-SiC (0001) Surface Planarized by Catalyst-Referred Etching2011

    • 著者名/発表者名
      定國峻
    • 学会等名
      4th International Conference of Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology
    • 発表場所
      Langham Place Hong Kong Hotel(中国)
    • 年月日
      2011-11-15
  • [学会発表] Fabrication of Atomically Controlled Flat GaN (0001) Surfaces Using Catalyst-Referred Etching in Water2011

    • 著者名/発表者名
      定國峻
    • 学会等名
      Fourth International Symposium on Atomically Controlled Fabrication Technology
    • 発表場所
      大阪大学中之島センター(大阪府)
    • 年月日
      2011-10-31
  • [学会発表] 多段階の化学的平坦化手法を用いたGaN単結晶基板の高能率・超平坦化加工2011

    • 著者名/発表者名
      定國峻
    • 学会等名
      2011年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      金沢大学(石川県)
    • 年月日
      2011-09-22
  • [学会発表] Atomically Controlled Chemical Polishing of GaN Using Platinum and Hydrofluoric Acid2011

    • 著者名/発表者名
      定國峻
    • 学会等名
      9th International Conference on Nitride Semiconductors
    • 発表場所
      Scottish Exhibition and Conference Centre(イギリス)
    • 年月日
      2011-07-11

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公開日: 2013-06-26  

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