| 研究分担者 |
錦織 紳一 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 助教授 (70134400)
下井 守 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 教授 (30092240)
小島 憲道 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 教授 (60149656)
城 始勇 理学電機(株), X線研究所, 主任研究員
MOTOO Shiro RIGAKU CO., LTD., X-ray Research Laboratory, Chief Scientist
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| 研究概要 |
2次元検出器としてイメージングプレート(IP)検出器を採用し,IP型単結晶X線回折装置が,主な対象化合物である金属錯体の構造解析に適しているか否かの性能評価を行った.多数の金属錯体単結晶について実際に回折強度測定を行い,構造解析を行った.約10種の金属錯体については四軸型X線回折装置での測定に基づく解析結果と比較検討した.
高圧発生装置として,X線回折計に搭載可能なダイヤモンド・アンビル・セル(DAC)の開発を行った.本機搭載用に大型の40mmφのDACと40mmφDAC用ゴニオメーターヘッドを開発した.
DAC内の結晶試料セッティングを精密に行うために,ガスケット位置高精度穴開け装置の製作,ならびに,種々の治具の製作を行った.
DACをX線回折計に搭載するために,ゴニオメーター周辺(照明,コリーメーター,ビームストッパー)の改造を行った.
DACをX線回折計に搭載して動作確認を行った.その結果,衝突等の不具合がないことを確かめた.DACの重みによるゴニオメーターヘッドのたわみが発生したので,それを改造した.
DAC内に単結晶試料がある場合の測定手順・技法を研究し開発した
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