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[文献書誌] 池田 徹, 菰原 裕二, 中村 敦, 宮崎 則幸: "混合モード界面き裂の破壊と屈曲条件"日本機械学会論文集(A編). 66(644). 796-803 (2000)
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[文献書誌] 李 徳甫, 池田 徹, 宮崎 則幸: "エポキシ樹脂2相接合継手におけるき裂損傷域分布"日本機械学会論文集(A編). 66(645). 939-945 (2000)
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[文献書誌] Toru ikeda, C.T.Sun: "Stress Intensity Factor Analysis for an Interface Crack between Dissimilar Isotropic Materials under Thermal Stress"Damage and Fracture Mechanics. VI. 63-72 (2000)
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[文献書誌] 池田 徹, 菰原 裕二, 宮崎 則幸: "プラスチックパッケージにおける界面き裂のはく離限界"日本機械学会論文集(A編). 66(648). 1533-1540 (2000)
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[文献書誌] Toru Ikeda, Yuji Komohara, Atsuhi Nakamura, Noriyuki Miyazaki: "Kinking out of a Mixed Mode Interface Crack"Key Engineering Materials. 183-187. 73-78 (2000)
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[文献書誌] 池田 徹, 上野 雄也, 宮崎 則幸, 伊東 伸孝: "LSIプラスチックパッケージのはんだリフロー割れ防止設計法の検討"エレクトロニクス実装学会誌. 4(1). 47-55 (2001)
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[文献書誌] Toru Ikeda, Noriyuki Miyazaki, Yuya UENO, Nobutaka Ito: "Design for Plastic Packages of LSI Chip to Prevent Cracking during solder Reflow Process"Proceedings of the InterPACK 2001 on CD-ROM. IPACK2001-15611. (2001)
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[文献書誌] 宮崎則幸, 池田 徹: "界面強度研究の最近の動向"日本機械学会誌. 104(993). 508-509 (2001)
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[文献書誌] 池田 徹, 桑原 崇, 金 シ元槿, 宮崎則幸: "異方性導電樹脂接合部の接合強度の測定"九州大学応用力学研究所研究集会報告・電子デバイス/微小構造の強度信頼性. 63-70 (2001)
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[文献書誌] Toru Ikeda, Daisuke Ikemoto, Deokbo Lee, Noriyuki Miyazaki: "Damage Mechanics in Thin Adhesive Layer Constrained by Hard Adherends"Computational Mechanics : New Frontiers for the New Millennium. 1. 631-636 (2001)
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[文献書誌] Toru Ikeda, C.T.Sun: "Stress Intensity Factor Analysis for an Interface Crack between Dissimilar Isotropic Materials under Thermal Stress"International Journal of Fracture. 111. 229-249 (2001)