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2002 年度 実績報告書

圧電検出・駆動型ダイヤモンドマルチプローブを搭載した次世代ナノ加工・計測システム

研究課題

研究課題/領域番号 13555068
研究機関茨城大学

研究代表者

柴田 隆行  茨城大学, 工学部, 助教授 (10235575)

研究分担者 脇山 茂  セイコーインスツルメンツ(株), 科学機器事業部・技術一部, 係長(研究職)
林 照剛  茨城大学, 工学部, 助手 (00334011)
牧野 英司  弘前大学, 理工学部, 教授 (70109495)
キーワード次世代ナノ加工計測システム / ナノリソグラフィ / 原子間力顕微鏡 / AFMプローブ / ダイヤモンド薄膜 / PZT薄膜 / アクチュエータ / センサ
研究概要

本研究では、圧電検出・駆動型ダイヤモンドAFMプローブを搭載した"次世代ナノ加工・計測システム"の開発を目的とした。得られた成果をまとめると以下のとおりである。
1.ダイヤモンドAFMプローブの開発
1)ダイヤモンド薄膜のマイクロマシニング技術を確立し、ダイヤモンドAFMプローブを開発した。具体的には、(1)選択成長法によるカンチレバー形状のパターニング技術、(2)異方性エッチングによって形成したSiモールドを利用したピラミッド形状のティップ形成技術、(3)アルミニウム薄膜を中間層に用いたダイヤモンド薄膜とガラス(Pyrex 7740)の陽極接合技術を組合せることでダイヤモンドAFMプローブ作製のためのバッチプロセスを確立した。
2)有限要素法によって最適なプローブ形状(V字型カンチレバー)を設計し、ばね定数1N/m、6N/mの2種類のダイヤモンドプローブを試作し、作製したダイヤモンドプローブによってAFM計測が可能であることを明らかにした。まだ、従来のSi_3N_4製プローブに対して耐摩耗性が飛躍的に向上することを確認した。
2.圧電検出・駆動型ダイヤモンドAFMプローブの開発
1)ダイヤモンド薄膜上にPZT圧電薄膜を形成するためのスパッタ条件およびアニール条件を明らかにした。アニール温度700℃、昇温速度10℃/s、保持時間10min、N_2雰囲気中でアニールを行うことによって、約25pC/Nの圧電定数をもつPZT薄膜の形成を可能とした。さらに、ポーリング処理によって圧電定数が約65pC/Nまで向上することを明らかにした
2)SF_6ガスを用いた反応性イオンエッチング(RIE)によってPZT薄膜のパターニング技術を確立した。
3)PZT圧電薄膜を搭載した圧電検出・駆動型ダイヤモンドAFMプローブの作製プロセスを確立した。
以上の結果をもとに、圧電検出・駆動型ダイヤモンドAFMプローブを試作し、その性能を評価した結果、AFM観察時の計測分解能0.4nm、加工時の発生力15μNが得られることを実験的に確認した。

  • 研究成果

    (3件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (3件)

  • [文献書誌] K.Unno: "Smart Nano-Machining and Measurement System with Semiconductive Diamond Probe"Smart Materials and Structures. 10・4. 730-735 (2001)

  • [文献書誌] 柴田隆行: "ダイヤモンドMEMS"砥粒加工学会誌. 46・6. 286-289 (2002)

  • [文献書誌] T.Shibata: "Characterization of Sputtered ZnO Thin Film as Sensor and Actuator for Diamond AFM Probe"Sensors and Actuators. A102・1-2. 106-113 (2002)

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公開日: 2004-04-07   更新日: 2016-04-21  

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