| 研究概要 |
1.液晶パネルに対する4種類の偏光状態の透過光強度に基づくストークスパラメータから液晶パネルにおける液晶層の厚み,分子配向における捻れの角度等のパラメータを求める手法を反社型液晶パネルに適用するための理論解析を行った。反射型液晶パネルに適用するためには,ハーフミラー及び液晶層に対してジョーンズ行列による解析を行うことで,従来の透過型液晶パネルに対応するストークスパラメータを用いた液晶セルパラメータ解析手法を反射型液晶パネルに拡張する理論式を導出した。
2.白色光源,干渉フィルター,偏光子,ハーフミラー,反射型液晶パネル,1/4波長板,検光子,CCD撮像素子からなる反射型液晶パネルにおけるセルパラメータの測定及び解析を行う装置を設計し,試作を行った。各波長に対応する干渉フィルター及び1/4波長板としてバビネ・ソレイユ補償板を用いることで,多波長の光源を用いた場合に対応する測定を行うことができ,また近赤外の波長領域にも対応できるような構成とした。
3.データの処理及び解析を行うためのプログラムを作成し,試作した光学測定部及び装置の測定制御部とを統合することで,反射型液晶パネルにおける液晶層の厚み,分子配向のねじれ角等のセルパラメータを二次元分布で同時測定し,その結果を立体画像で表示する装置を構成し,この装置の特性の評価を行うと共に解析結果と合わせ実験室的な検証を行った。
4.本研究において構成した反射型液晶パネルにおけるセルパラメータ解析装置を実際の反射型液晶パネルに適用した場合の問題点等を抽出し,考察を行った。
5.以上の研究結果を取りまとめ,問題点や改善すべき点等について検討し,次年度に向けて特性の一次評価を行った。
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