| 研究概要 |
(1)偏光子・検光子及び1/4波長板を用いて液晶セルの透過光の偏光状態からストークスパラメータを求め、理論解析を行うことで反射型液晶パネルのセルパラメータを得ることを目的として,従来の透過型液晶パネルに適用していたストークスパラメータ法による液晶セルパラメータ解析手法を反射型液晶パネルに適用するための理論解析を発展させ,液晶セルパラメータを演算により求めるための理論式を確立することができた。
(2)反射型液晶パネルにおける液晶層の厚み、液晶分子配向における捻れの角度、及び液晶分子が基板面から立ち上がる角度であるプレティルト角等のセルパラメータを測定し解析を行う装置を設計した。次にこの設計指針に基づき装置の試作を行うと共に,その特性の評価を行った。また,実パネルに近いサンプルを用いて解析を行った結果,実験室的な検証を行うことができた。さらに,得られた結果について考察を加えると共に,特性のさらなる改善のための指針を得ることができた。
(3)以上の研究成果に基づき,光学測定部,データの処理及び解析部,装置の測定制御部,を統合することで,液晶層の厚み,液晶分子配向のねじれ角,液晶分子が基板面から立ち上がる角度であるプレティルト角,等のセルパラメータを各画素内での分布として同時に測定し,その結果を立体画像で表示することができる液晶セルパラメータの二次元測定及び表示装置を構成することができた。この装置を実際の反射型液晶パネルに適用し,測定・評価を行うと共に,具体的な問題点等を抽出し考察を加えることで,実用機に近い装置を構成することができた。
(4)以上の研究結果を取りまとめ,本研究課題の総括を行った。
|
