| 研究課題/領域番号 |
13650341
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
電子・電気材料工学
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| 研究機関 | 豊橋技術科学大学 |
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研究代表者 |
穂積 直裕 豊橋技術科学大学, 工学部, 助教授 (30314090)
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| 研究分担者 |
村本 裕二 豊橋技術科学大学, 大学院・工学研究科, 助手 (70273331)
長尾 雅行 豊橋技術科学大学, 工学部, 教授 (30115612)
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| 研究期間 (年度) |
2001 – 2002
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| キーワード | 空間電荷計測 / キャリア移動度 / 可視化 / 材料 / 表面電荷層 |
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| 研究概要 |
本報告では、高分子絶縁材料に電圧パルスなどの擾乱を与えた後の過渡的空間電荷を追尾することにより、キャリア起源と移動度などのパラメータを推定する新しい方法を提案した。しかし従来の測定系ではキャリア移動度が比較的大きい機能性材料での観測は困難であったため、μs〜msオーダーの速い時間変化に対応した測定法を開発し、光伝導性材料の性能評価に応用した。複写機の感光層を模擬た試料にバイアス電圧を印加し、光パルスを照射すると、陽極にある電荷発生層からキャリアが発生し、キャリア輸送層の中を掃引される。パルス静電応力法によって光パルス照射後の内部空間電荷を測定した。キャリア発生のための励起光パルスと空間電荷測定のためのプローブパルスとのタイミングを順次ずらすことによって試料中を走行するキャリアの動きを追尾した。平均電界22kV/mmにおける平均的なキャリア移動度は1.4×10^<-9>m^2/Vsと推定された。光パルス照射後の過渡電流は空間電荷の移動とよく符合した。提案した新しい方法により、10^<-9>m^2/Vs程度の移動度をもつキャリアの挙動を追尾することができ、有機感光体の性能評価への適用可能性が示唆された。
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