|
微小部測定形状測定変位計システム(高精度CCDレーザー変位計:計測主体・コントローラー:KEYENCE社製LE・4000、ホストコンピュータ:NEC社製LM40H13、2軸可動ステージ:中央精機株式会社製MMC・2・MMC・K/J、表面解析プログラム:三谷商事株式会社製Tres・Valle Lite ver.1.02)の構築に成功し、0.2ミクロメータの精度で微細な切創と食具使用痕跡の計測を実施した。さらに、このシステムを利用し、北海道・本州・四国・九州にわたる範囲でデータ収集を実施するとともに、今までに分析してきたデータを整理し、報告書を製作した。
遺物類と切創や使用痕跡等の分析では、富岡・北野各研究室に装備された実体顕微鏡・生物顕微鏡や蛍光X線分析装置、ノギス等計測器具を使用し、詳細な属性データの蓄積を図った。
分析した遺跡名と資料名を以下に掲げる。
北海道:札幌市K501遺跡、千歳市オサツ2遺跡、同市ユカンボシC2遺跡、同市末広遺跡、平取町オパウシナイ1遺跡
東北地方:宮城県仙台市青葉城二ノ丸跡、同市養種園遺跡、同市北目城跡
中部地方:新潟県糸魚川市清崎城跡、同県同市鉄砲町遺跡、同県同市陣屋跡、同県神林村窪田・松蔭東遺跡隣接地、同県新発田市新発田城、同県朝日村所蔵民具
近畿地方:兵庫県明石市明石城跡武家屋敷、同市鷹匠町遺跡、同県姫路市姫路城、同県伊丹市有岡城・伊丹郷町遺跡、京都府京都市近世遺跡群、大阪府大阪市住友銅吹所跡遺跡
中国地方:岡山県倉敷市下津井城、同県岡山市岡山城二ノ丸跡、同市天瀬遺跡
四国:香川県高松市高松城東ノ丸跡、同県同市中間西井坪遺跡、徳島県徳島市新蔵町3丁目遺跡
九州:長崎県長崎市出島遺跡
|
