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今年度は、当初の計画に従って、設計検討および実験系の整備、とくにガス中での偏光X線光子のつくる一次電子群の形状測定を行った。
本研究計画においては、まずガス中に偏光X線が形成する一次電子群の形状が本質的に重要であるので、コンベンショナルな比例計数管をもちいて、偏光発生装置の製作および一次電子群の形状測定の実験をおこなった。
1.X線発生管からの偏光を直接あるいは、プラスチック散乱体をもちいて偏光度を強め、これを検出器に入射するシステムを製作した。とくに簡便に単色とするため金属二次ターゲットを使用する装置を製作した。
2.比例計数管を用いて、偏光と平行、あるいは垂直に陽極線のあるときの信号の立ち上がり時間を比較、偏光測定系の構築とガス中での物理過程の基礎的な実験を行った。
3.ガス中で偏光X線のつくる一次電子群の形状について、ガス分子と反跳電子の散乱素過程にもとづいた数値計算をおこない10keVで1mm程度の電子雲の広がりが予想されることを確認した。
これらの実験および実験計画にもとづき実験装置の整備を行った。とくに3については、さらに考慮する素過程を検討し、より精密な見積もりを進める準備をしている。これらは次年度に製作予定の、撮像型ガス蛍光比例計数管を用いた偏光計の設計を検討する上で、重要な資料となる。
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