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2015 年度 実績報告書

大気圧プラズマを援用した次世代ワイドギャップ半導体基板の高品位加工プロセスの開発

研究課題

研究課題/領域番号 13J00581
研究機関大阪大学

研究代表者

トウ 輝  大阪大学, 工学研究科, 特別研究員(DC1)

研究期間 (年度) 2013-04-01 – 2016-03-31
キーワード単結晶GaN / プラズマ援用研磨 / エッチピットフリー / ステップ/テラス / CVD-SiC / プラズマCVM
研究実績の概要

(1)平滑かつエッチピットフリーなGaN表面を高能率に加工するため、我々はGaNに対してスラリーフリー研磨法であるプラズマ援用研磨法の適用を行った。平成27年度、GaNに対して、我々が開発した3インチ基板全面加工用PAP装置の適用を行った。まず、砥石材質及び構造の最適化を調査した結果、固定タイプのレジンボンドのセリア砥石は優れた研磨特性を示した。そして、プラズマの発生条件の最適化を行った結果、キャリアガスとしてArの使用、水分圧の低減、そしてガス流量を大きくするのはプラズマ改質速度の向上に有効であることが示唆された。開発した3インチサイズ基板の全面が研磨可能なPAP装置をGaNの研磨に適用した結果、砥石表面の摩耗のため、PAP加工の進行に伴う加工速度の低減が確認された。PAPとドレシングを交互に適用したところ、193 nm/hの研磨レートが得られた。本研磨レートは従来のCMPにおける研磨レートの約2.5倍である。
(2)CVD-SiC金型のダメージフリー,高能率,低コスト加工を実現するため,我々はPlasma Chemical Vaporization Machining(PCVM)法による形状創成,そしてプラズマ援用研磨法(PAP)による表面仕上げの二段階加工プロセスを開発した。機械加工後CVD-SiC基板に対して、PCVMによるスクラッチと加工変質層の高速除去を行った後、PAPによる表面のダメージフリー仕上げを行う二段階加工プロセスを適用した。5分間のPCVM加工によって、機械加工で導入されたスクラッチと加工変質層を完全に除去し、その後、3時間のPAP仕上げ研磨によって、表面粗さを0.69 nm rmsまで改善し、スクラッチフリーかつダメージフリーな表面を得た。本結果は、CVD-SiCに対する二段階加工プロセスの有用性を実証するものである。

現在までの達成度 (段落)

27年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

27年度が最終年度であるため、記入しない。

  • 研究成果

    (7件)

すべて 2016 2015

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件、 謝辞記載あり 2件) 学会発表 (4件) (うち国際学会 3件)

  • [雑誌論文] Study on removal mechanism of sapphire in plasma assisted polishing2016

    • 著者名/発表者名
      Chika Kageyama, Kohki Monna, Hui Deng, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 雑誌名

      Advanced Materials Research

      巻: 1136 ページ: 317-320

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/AMR.1136.317

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Plasma-assisted polishing of gallium nitride to obtain a pit-free and atomically flat surface2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 雑誌名

      Annals of the CIRP

      巻: 64 ページ: 531-534

    • DOI

      http://dx.doi.org/10.1016/j.cirp.2015.04.002

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Atomic-scale and pit-free flattening of GaN by combination of plasma pretreatment and time-controlled chemical mechanical polishing2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 雑誌名

      Applied Physics Letter

      巻: 107 ページ: 051602-1-4

    • DOI

      http://dx.doi.org/10.1063/1.4928195

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [学会発表] プラズマ援用研磨法の開発(第14 報) -プラズマをベースとした金型用 CVDSiCの形状創成と表面仕上げに関する研究-2015

    • 著者名/発表者名
      鄧輝, 遠藤勝義, 山村和也
    • 学会等名
      2015年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      東北大学川内北キャンパス講義棟C(仙台市青葉区)
    • 年月日
      2015-09-04 – 2015-09-06
  • [学会発表] Plasma-assisted polishing of gallium nitride to obtain a pit-free and atomically flat surface2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 学会等名
      65th CIRP General Assembly
    • 発表場所
      Cape Town, South Africa
    • 年月日
      2015-08-23 – 2015-08-29
    • 国際学会
  • [学会発表] Flattening of single crystal SiC by combination of anodic oxidation and soft abrasive polishing2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Kenji Hosoya, Yusuke Imanishi, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 学会等名
      15th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
    • 発表場所
      Leuven, Belgium
    • 年月日
      2015-06-01 – 2015-06-05
    • 国際学会
  • [学会発表] Polishing characteristics of CVD-SiC in plasma-assisted polishing2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 学会等名
      15th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
    • 発表場所
      Leuven, Belgium
    • 年月日
      2015-06-01 – 2015-06-05
    • 国際学会

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公開日: 2016-12-27  

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