| 研究課題/領域番号 |
14350340
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
金属物性
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| 研究機関 | 名古屋大学 |
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研究代表者 |
武藤 俊介 名古屋大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20209985)
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| 研究分担者 |
田辺 哲朗 名古屋大学, 大学院・工学研究科, 教授 (00029331)
吉田 朋子 名古屋大学, 大学院・工学研究科, 助教授 (90283415)
巽 一厳 名古屋大学, 大学院・工学研究科, 助手 (00372532)
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| 研究期間 (年度) |
2002 – 2004
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| キーワード | 透過電子顕微鏡 / 電子エネルギー損失分光 / 波長分散X線分析 / カソードルミネッセンス / 格子欠陥クラスター / 第一原理電子状態計算 / 軽元素分析 / 金属酸化物 |
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| 研究概要 |
本研究の大目的は、一つのTEMにおいてバンド間遷移の情報を取得する複合電子分光システムを開発し、その応用によって主として金属酸化物やセラミクス材料の点欠陥から観察可能なサイズの欠陥クラスターまでのキャラクタリゼーションを行う手法を開発・応用することである。本研究によって以下のような成果を得た。
(1)機器開発
(1-i)カソードルミネッセンス取得用試料ホルダーの開発
(1-ii)斜入射型波長分散X線分析装置の開発
(1-iii)入射電子ビームのホローコーン照明用アタッチメントの装備
(2)新しい解析法の導入
(2-i)EXELFS解析の高度化(逆モンテカルロ法、時分解測定、ウェーブレット変換の導入)
(2-ii)Fluctuation Microscopyによる中距離秩序の導出
(2-iii)量子化学計算によるELNESスペクトルのシミュレーション
(2-iv)微小押し込み試験の解析のための有限要素法シミュレーションプログラムの開発とセラミクスの照射特性への応用
(3)応用研究
(3-i)セラミクスの照射損傷に伴う欠陥クラスターの検出と不純物酸素複合欠陥の構造解析
(3-ii)セラミクス表面のガスイオン照射誘起ブリスター内部組織のキャラクタリゼーション
(3-iii)水素化ナノ構造黒鉛中の水素の状態分析
(3-iv)自動車用酸素吸放出助触媒の電子状態分析
以上によって、点欠陥から原子数個の欠陥クラスターの構造解析は可能となった。しかしながらミッシングリンクであるおよそ1nm前後の欠陥クラスターの詳細な構造解析については、さらなる進展が必要である。
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