| 研究課題/領域番号 |
14380231
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
中沢 正治 東京大学, 大学院・工学系研究科, 教授 (00010976)
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| 研究分担者 |
福田 大治 東京大学, 大学院・工学系研究科, 助手 (90312991)
石川 顕一 東京大学, 大学院・工学系研究科, 助教授 (70344025)
高橋 浩之 東京大学, 人工物工学研究センター, 助教授 (70216753)
高田 英治 富山高等専門学校, 電気工学科, 助教授 (00270885)
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| キーワード | 光ファイバー / FBG / マイクロクラック検出 / 対放射線性 / SNOM / AFM / 引っ張り試験機 / SUS316 |
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| 研究概要 |
本研究では、研究目的が2つあって、1、FBG(ファイバーブラッググレーティング)による微少クラックの検出、2、光ファイバーの耐放射線性の向上である。
1、のテーマについては、SUS316による引つ張り試験片を製作し、引つ張り試験機器による伸びを、光ファイバーにより検出する作業に入ったが、試験機のマシンタイムの都合で、今回実施するには至らなかったので、次年度、早急に実施する予定とした。
2、のテーマについては、近接場光学顕微鏡(SNOM)を用いて、次の研究を行なった。このSNOMによる表面形状の観察は、AFM(原子間力顕微鏡)でも行なったが、表面の凹凸形状により光学特性や放射線照射効果は対応づけて理解される。
今回、光ファイバーのコア近辺の14μm×14μmの領域を532nmレーザー光で観察し、10μm程度の解像度での像を得た。
次に、プローブから取り出された光を測定するコレクションモードで観察した。AFM画像では、14μm×14μmの領域がほぼ平坦であったが、SNOMの画像では、レーザーの高次モードと考えられる光強度分布を確認できた。波長532nmは、今回の実験で使った光ファイバーのカットオフ波長以上であるので高次モードが存在し、その径方向の強度分布が測定できたものと考えられる。今後、この強度分布と耐放射性の関係を、いろいろな光ファイバーについて測定していく予定である。
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