| 研究概要 |
我々は50eVから150eVの超軟X線USX領域に特化し,かつ,試料水平型の新しい実験室超軟X線分光スペクトル測定装置(USXA)の製作を行った。このスペクトル装置は軟X線吸収分光法の学術的,かつ,工業的な分析機器として用いることができる。およそ100eVフォトンの高フラックスは軽元素化合物の化学と材料の性質を研究する理想的な実験室型装置を可能とする。我々の分光装置USXAは特別に開発したレーザー励起擬連続の高フラックスUSX源と最近開発した高効率の低ノイズ検出システムを用いることで全電子収量法あるいは他の方法でUSX領域の測定を可能とする。この高効率のUSXAスペクトル装置は完全にコンピュータ制御されユーザーにやさしい操作法とデータ処理ソフトを備え,非常に短時間で正確なエネルギー値をもつX線吸収スペクトルを得ることができる試料稼動機構も有している。非常に高い正確なエネルギー値をもつ吸収スペクトルが試料あたり5分以下で測定できる。反射率実験で得られた結果は米国のALSで得られた結果と比較された。両方法の結果は我々の実験室装置がシンクロトロン光施設装置から得られた結果に近い高いフラックスと細いビームサイズと繰り返し精度をもつことを示している。いくつかのリチウム化合物のLi-K吸収端測定曲線は測定領域においてシンクロトロン光施設で得た結果と良く一致していることを示す。これらの結果はすでに報告している。また,測定試料合成法やそのキャラクタリゼーションをシンクロトロン光施設で行った結果も報告している。
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