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2005 年度 実績報告書

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

研究課題

研究課題/領域番号 15300018
研究機関奈良先端科学技術大学院大学

研究代表者

藤原 秀雄  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 教授 (70029346)

研究分担者 井上 美智子  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教授 (30273840)
大竹 哲史  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助手 (20314528)
米田 友和  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助手 (20359871)
キーワードシステムオンチップ / テスト容易化設計 / 連続可検査 / 連続透明 / テストアーキテクチャ / テストアクセス機構 / 相互最適化 / コアベース設計
研究概要

平成17年度の主な研究成果を以下に示す。
(1)消費電力を考慮したマルチクロックドメインを有するシステムオンチップのテストに関する研究
今年度は、消費電力を考慮したマルチクロックドメインを有するシステムオンチップのテストに関する研究を行った.通信やディジタル信号処理に用いられるSoCでは、コア毎に異なったクロック周波数で動作するマルチクロックドメインSoCであるため、コア毎のテスト時の周波数の違いや、テスターと各コアの周波数の違いも考慮する必要がある。このようなマルチクロックドメインSoCを対象とし、テスト実行時間の最小化を目的としたテストアーキテクチャの設計手法およびテストスケジューリング手法を提案した。テストアーキテクチャとしては、各コアにラッパーを付加する方式を考え、マルチクロックドメインコアに対するラッパー設計法を提案した。提案したラッパーは,スキャンシフト時とキャプチャ時でその構成を切り替え可能な再構成ラッパーである。また、シフト時のラッパー設計においてシフト時専用のクロックドメインを追加することで、消費電力制約下において、従来手法よりシフト時間の削減が可能である。ベンチマーク回路での評価実験では、従来法に比較して電力制約下でテスト実行時間の削減に成功している。
(2)プロセッサコアに対する自己テスト法とテスト容易化設計法に関する研究
プロセッサコアに対する自己テスト法とテスト容易化設計法の研究を行った。昨年度に行ったテンプレートを利用したテストプログラム生成法の研究成果をもとに、自己テスト法を提案した。この方法では必ずしも100%の故障検出効率が達成できない場合があり、テスト容易化設計が必要となる。そこで、テンプレートを利用したテストプログラム生成法に基づくテスト容易化設計法を提案した。ベンチマークによる実験で、遅延オーバヘッドをほとんどゼロとし、面積オーバーヘッドもスキャン設計に比べ大幅に削減した方法となっている。

  • 研究成果

    (6件)

すべて 2005 その他

すべて 雑誌論文 (6件)

  • [雑誌論文] Delay Fault Testing of Processor Cores in Functional Mode2005

    • 著者名/発表者名
      Virendra Singh
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems E88-D. 3

      ページ: 610-618

  • [雑誌論文] 縮退故障とパス遅延故障のためのプロセッサの命令レベル自己テスト法2005

    • 著者名/発表者名
      井上美智子
    • 雑誌名

      電子情報通信学会和文論文誌D-1 J88-D-I,6

      ページ: 1003-1011

  • [雑誌論文] Power-Constrained Test Synthesis and Scheduling Algorithms for Non-Scan BIST-able RTL Data Paths2005

    • 著者名/発表者名
      Zhigiang You
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems E88-D,8

      ページ: 1940-1947

  • [雑誌論文] A Memory Grouping Method for reducing Memory BIST Logic of System-on-Chips

    • 著者名/発表者名
      Masahide Miyazaki
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems (to appear)

  • [雑誌論文] Error identification in at-speed scan BIST environment in the presence of circuit and tester speed mismatch

    • 著者名/発表者名
      Yoshiyuki Nakamura
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems (to appear)

  • [雑誌論文] System-on-Chip Test Scheduling with Reconfigurable Core Wrappers

    • 著者名/発表者名
      Erik Larsson
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Very Large Scale Integration Systems (to appear)

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公開日: 2007-04-02   更新日: 2016-04-21  

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