研究課題
基盤研究(B)
2台のデジタルマイクロスコープで転移突起の成長過程を2方向から撮影した。リレーに搭載した片持ち梁先端にリベット留めした接点対で発生する転移突起の形状は、円錐形ではなく、背が高くなるに連れてスフィンクス像形となる。突起形状がスフィンクス像に似たことは、アーク柱がローレンツカで片持ち梁先端方向へと押出されるため、多数回のアーク放電で堆積してできた突起の頂点は円錐形状から支持片先端方向へと移動するためであった。転移突起が高くなると閉成時の衝突直前にアーク放電やブリッジの発生を確認できたので、溶融状態の接触面が接触し、静止閉成中に(溶着)スチッキングが発生したと考えられる。転移突起及び消耗クレータの形状の計測に関しては、走査型レーザ顕微鏡を使用して、転移突起と対向する電極上の消耗クレータの3次元イメージの観察、及び形状の数値的評価(深さ・高さ、径の計測、体積の計算)を行った。このうち体積の計算については、新たに「台形近似法」アルゴリズムならびに「区分台形近似法」アルゴリズムを独自に考案した。また、転移突起や消耗クレータの形状を比較するためには、突起高さ又はクレータ深さと突起・クレータの径とを縦軸・横軸としたグラフが有効であることを確認した。低速・定速開離装置を使った開離時アークの姿態を1ms間隔で撮影した結果、この放電の初期及びアーク電圧の大きな変動期間中はアーク輝点の存在場所の変動幅も大きいこと、この放電の後期には輝点の変動幅が狭いこと(ほぼ同じ場所に存在)を突き止めた。窪野・関川研のHomepage:http://www.ipc.shizuoka.ac.jp/~tjsekik/に転移突起の成長過程の動画とアーク放電の陰極輝点・陽極輝点の運動状況の動画を掲載してある。
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Proc. the 2nd International Conference on Reliability of Electrical Products and Electrical Contacts, March 28-31, 2007, Asia Gulf Hotel, Xiamen, China.
ページ: 97-102
IEICE Trans, on Electronics in Japan E90-C・8(8月号掲載決定済)
Proceedings of 2nd International Conference on Reliability of Electrical Products and Electrical Contacts, March 28-31, 2007, at a Gulf Hotel, Xiamen, China.
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics (in Japan) Vol.E90-C, No.8(2007年8月号決定)
Proc. 54th Relay and Switch Technology Conference, April 18-20, 2006, Costa Mesa, California
ページ: 45-50
Proceedings of the 23rd International Conference on Electrical Contacts together with IS-EMD2006 of IEICE, 6-9 June 2006, Sendai, JAPAN
ページ: 40-44
ページ: 300-305
ページ: 319-324
ページ: 325-330
ページ: 337-342
ページ: 446-451
IEICE Trans. on Electronics in Japan E89-C・8
ページ: 1141-1146
ページ: 1147-1152
ページ: 1160-1163
Proc. 52nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, September 25-27, 2006, at Delta-Centre-Vilie Montreal, Canada
ページ: 153-158
ページ: 335-339
Proceedings of 54th Relay and Switch Technology Conference, April 18-20, 2006, Costa Mesa, California, USA
Proc. of the 23rd International Conference on Electrical Contacts, together with International Session on Electro-Mechanical Devices 2006 of IEICE, (Sendai International Center, JAPAN)
Proc. of the 23rd International Conference on Electrical Contacts, together with International Session on Electro-Mechanical Devices 2006 of IEICE, Sendai International Center, Sendai, JAPAN
Proc. of the 23rd International Conference on Electrical Contacts, together with International Session on Electro-Mechanical Devices 2006 of IEICE
Proceedings of the 23rd International Conference on Electrical Contacts, together with International Session on Electro-Mechanical Devices 2006 of IEICE, Sendai International Center, Sendai, JAPAN
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics (in Japan) Vol.E89-C No.8
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics (in Japan) Vol.E89-C, No.8
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics Vol.E89-C, No.8
Proceedings of 52nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, September 25-27, 2006, at Delta-Centre-Ville Montreal, Canada
ページ: 193-198
電子情報通信学会論文誌C J88-C・2
ページ: 115-122
Proc. 53rd Relay and Switch Technology Conference, April 18-20, 2005, Costa Mesa, California, USA
ページ: 5-1-5-9
IEICE Transactions on Electronics E88-C・8
ページ: 1573-1576
ページ: 1584-1589
ページ: 1590-1595
ページ: 1596-1602
ページ: 1616-1619
ページ: 1664-1669
ページ: 1670-1674
Proceedings of 51st IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, September 26-28, 2005, at Holiday Inn Chicago City Center Chicago, IL USA
電子情報通信学会論文誌C J88-C・11
ページ: 981-988
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics (in Japan) Vol.J88-C, no.2
Proceedings of 53rd Relay and Switch Technology Conference, April 18-20,2005, Costa Mesa, California, USA
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics Vol.E88-C, No.8
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics (in Japan) Vol.E88-C, No.8
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics (in Japan) Vol.J88-C, No.11
IEEE Transaction on Components and Packaging Technologies 27・1
ページ: 167-171
IEICE Transactions on Electronics E86-C・8
ページ: 1342-1347
ページ: 1356-1360
ページ: 1361-1366
Proc. of the 1st International Conference on Reliability of Electrical Products and Electrical Contacts, pp.95-102, August 28-31, 2004, Changshu International Hotel, Suzhou, China.
ページ: 95-102
Proc. of 22nd International Conference on Electrical Contacts together with 50th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, September 20-23, 2004 at Sheraton Hotel, Seattle, Washington USA
ページ: 47-52
ページ: 441-446
IEEE Transaction on Components and Packaging Technologies Vol.27, no.1
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics in Japan Vol.E87-C, No.8
Proceedings of the 1st International Conference on Reliability of Electrical Products and Electrical Contacts, August 28-31, 2004, Changshu International Hotel, Suzhou, China.
Proceedings of 22nd International Conference on Electrical Contacts together with 50th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, September 20-23, 2004 at Sheraton Hotel, Seattle, Washington USA
IEICE Transactions on Electronics E86-C・6
ページ: 926-931
ページ: 939-944
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Transactions on Electronics in Japan Vol.E86-C, No.6
