| 研究課題/領域番号 |
15360337
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| 研究機関 | 帝京科学大学 |
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研究代表者 |
堂山 昌男 帝京科学大学, 理工学部, 名誉教授 (40010748)
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| 研究分担者 |
義家 敏正 京都大学, 原子炉研究所, 教授 (20124844)
栗原 俊一 高エネルギー加速器研究機構, 物質構造研究所, 講師 (60215069)
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| キーワード | 透過型顕微鏡 / 陽電子顕微鏡 / 陽電子画像 / イメジングプレート |
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| 研究概要 |
平成15年度から4年間に亘った最後の年度であった。高エネルギー加速器研究機構のphoton factoryにある陽電子加速器からの陽電子がTime of Flight (TOF)装置までは来ていたが、肝心の改変した陽電子顕微鏡までは遂に接続されなかったので、実際に陽電子を使って陽電子顕微鏡を用いての実験は出来なかった。しかし、イメジングプレートを用いてTOFにきている陽電子ビーム内の陽電子強度の分布を測定することが出来た。それまではマルチ-チャンネルプレートを用いて測定する方法があったが、このマルチ-チャンネルプレートは高価なため、直径1インチのものがやっとであった。われわれはイメジングプレートを所要の大きさに切断し、真空中に入れ、陽電子ビームの強度分布を定量定期に測定することが出来た。このイメジングプレートは設置も明るいところでよく、露出中と露出後、読み取り機に移すときだけ暗所が必要であり、カード1枚で、他に余分の装置の必要もなく、定量的に測定できた。このように陽電子ビーム内の陽電子強度が定量的に測れたのは、世界で初めてである。また、22Na陽電子密封線源を用いて、陽電子透過像の実験が出来た。この場合もイメジングプレートをもちいた。この22Na密封陽電子線源は平成18年3月以前に日本アイソトープ協会から購入したもので、100マイクロキューリあるが、ボタン状で放射性同位元素とはみなされないので、持ち運びにも、実験にも非常に簡便である。透過像が何によるかは別として、例えばX線にしてもX線管球、高圧電源等嵩張り重量のある装置を持って行かねばならず、不便であるが、イメジングプレートと22Na陽電子線源とイメジングプレートを使う限り、どこにでも簡単に行ける。
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