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1)PerioGen Chipを用いたFGF-2刺激による歯根膜細胞での遺伝子発現解析
ヒト歯根膜細胞(HPDL)を石灰化誘導培地(10%FCS、10mM β-glycerophosphateおよび50mg/ml ascorbic acid含有α-MEM)にて9日間培養後、FGF-2刺激(100ng/ml)を3日間行い、RNAを抽出し、PerioGen Chipを用いて遺伝子発現を解析した。その結果、FGF-2刺激により発現が上昇する遺伝子群および下降する遺伝子群が同定された。その中で、遺伝子配列が全く未知の遺伝子GS5115とGS5507が見出された。FGF-2刺激によりGS5115の遺伝子発現は上昇し、GS5507の遺伝子発現は低下した。
2)FGF-2刺激反応性遺伝子の同定・解析
GS5115およびGS5507のゲノムデータベース解析の結果、GS5115はinsulin-like growth factor binding protein 5 (IGFBP5)遺伝子の最終エクソンの近傍に存在すること、一方、GS5507は、tetratricopeptide repeat domain 7 like 1 (TTC7L1)遺伝子のエクソン16と17の間に存在することが明らかとなった。それぞれの遺伝子とGSとの間でのRT-PCR解析により、GS5115はIGFBP5の最終エクソン(エクソン5)で新規の3'末端UTRの一部であることが、GS5507はTTC7L1の中間エクソンであり、新規の欠損型TTC7L1アイソフォームをコードしていることが明らかとなった。以上の結果から、ヒト歯根膜におけるFGF-2作用過程へのIGFBP5および新規TTC7L1アイソフォームの関与が示唆された。
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