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2003 年度 実績報告書

ナノテクノロジーを用いた深紫外半導体発光デバイスの開発とその応用

研究課題

研究課題/領域番号 15GS0207
研究機関東京工業大学

研究代表者

青柳 克信  東京工業大学, 大学院・総合理工学研究科, 教授 (70087469)

研究分担者 前田 瑞夫  東京工業大学, 理化学研究所・バイオ工学研究室, 主任研究員 (10165657)
荒川 泰彦  東京大学, 先端科学技術研究センター, 教授 (30134638)
鯉沼 秀臣  東京工業大学, 応用セラミックス研究所, 教授 (70011187)
松本 祐司  東京工業大学, フロンティア創造共同センター, 講師 (60302981)
平山 秀樹  東京工業大学, 理化学研究所・極微デバイス研究室, 研究員 (70270593)
キーワードナノテクノロジー / 深紫外 / 半導体発光デバイス / AlGaN / p型 / ドーピング / LED / ワイドバンドギャップ
研究概要

深紫外LEDを実現する上で必要不可欠である、ワイドバンドギャップAlGaNのp型化について検討した。高いAl組成のAlGaNでは、アクセプター準位が深くホール活性化率が低いため、高濃度Mgドーピングが必要である。そのため、高品質結晶が得られにくく、結晶欠陥によりn型になりやすい。本研究では、高Al組成p型AlGaNにおいて高いホール濃度を得るための、結晶成長条件とアニール条件を調査した。その結果、高Al組成p型AlGaNでは、これまでGaNで用いられた条件と比較し、低いV/IIIでの高温成長、および高い温度でのアニールが、高ホール濃度を得るために有効であることを見出した。この条件を用い、高Al組成(32%)のAlGaNにおいて、現在最も高いホール濃度(2×1018cm-3)を得ることに成功した。
また、結晶成長の初期低温成長AlNの膜厚の結晶性に与える効果を調べた結果、初期層の膜厚を20nmから35nmに厚くすることによりAlGaNからののPL強度が約2.5倍に増加し、結晶性が大きく向上することを明らかにした。本成長条件で、発光波長325nmのAlGaN系の多重量子井戸を有する高品質AlGaN-PN接合を作製して、LEDを構造を得た。本素子に電流中注入を行った結果、良好に発光することがわかった。今後は、この発光強度の増大、更なる短波長化を行っていく。

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公開日: 2005-04-18   更新日: 2016-04-21  

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