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電子構造を調べることは，物性の起源を理解する上で極めて重要な方法である。電子が占有されているフェルミ準位以下の状態は，角度分解光電子分光（ARPES)でエネルギー準位だけではなく運動量とエネルギーの関係まで，高い分解能で観測できる。一方で，電子非占有状態は，逆光電子分光が古くから行われてきたが，分解能が悪いために，光電子分光と比較することは不可能であった。そこで本研究では，高輝度電子源を物性実験用に初めて開発し，X線CCDを用いた真空紫外分光計を組み合わせた高分解能逆光電子分光装置の開発を試みた。
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